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小聚光点x射线荧光（XRF）分析仪

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN200880010874.8
申请日：
2008-02-12
公开(公告)号：
CN101652655A
公开(公告)日：
2010-02-17
发明(设计)人：
斯坦尼斯劳·皮奥雷克 迈克尔·E·杜格斯 保罗·埃斯塔布鲁克斯 李·格罗津斯 马克·汉密尔顿 肯尼思·P·马丁 佩莱希夫·斯里萨兰
申请人：
申请人地址：
美国马萨诸塞州
IPC主分类号：
G01N23223
IPC分类号：
代理机构：
北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人：
韩 龙;阎娬斌
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2010-02-17 公开 公开
2012-12-12 授权 授权
2010-04-21 实质审查的生效 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101000980847 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2008800108748 申请日:20080212
共 50 条
[1]
X射线荧光分析仪 [P]. 
苏显月 ;
闫晓晖 ;
拉海忠 ;
王莉菲 ;
刘慧娟 .
中国专利 :CN222994369U ,2025-06-17
[2]
X射线荧光分析仪 [P]. 
朴正权 .
中国专利 :CN113950621A ,2022-01-18
[3]
荧光X射线分析仪、荧光X射线分析方法及分析程序 [P]. 
臼井康博 .
中国专利 :CN1837796A ,2006-09-27
[4]
X射线分析仪 [P]. 
长谷川清 .
中国专利 :CN1435686A ,2003-08-13
[5]
大气微尘X射线荧光分析仪 [P]. 
康海英 ;
郑维明 ;
崔大庆 ;
徐平 ;
刘联伟 ;
张彤 ;
侯胜德 ;
陶苗苗 .
中国专利 :CN305573935S ,2020-01-24
[6]
XRF浸没探测分析仪 [P]. 
B·J·克罗斯比 ;
S·莱马 ;
P·W·海尔斯 ;
C·M·毛 ;
T·I·沙阿 ;
曾浩 .
中国专利 :CN207148014U ,2018-03-27
[7]
X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P]. 
T·科斯基宁 ;
A·佩里 ;
H·西皮拉 .
:CN112292593B ,2024-10-25
[8]
X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P]. 
T·科斯基宁 ;
A·佩里 ;
H·西皮拉 .
中国专利 :CN112292593A ,2021-01-29
[9]
X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P]. 
T·科斯基宁 ;
A·佩里 ;
H·西皮拉 .
:CN112313505B ,2025-01-03
[10]
X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法 [P]. 
T·科斯基宁 ;
A·佩里 ;
H·西皮拉 .
中国专利 :CN112313505A ,2021-02-02
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