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一种离子束水平与垂直角度测量装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811309626.5
申请日
:
2018-10-31
公开(公告)号
:
CN111128658A
公开(公告)日
:
2020-05-08
发明(设计)人
:
马国宇
申请人
:
申请人地址
:
101111 北京市通州区光机电一体化产业基地兴光二街6号
IPC主分类号
:
H01J37244
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-05
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01J 37/244 申请日:20181031
2020-05-08
公开
公开
共 50 条
[1]
一种离子束水平与垂直角度测量装置
[P].
马国宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京中科信电子装备有限公司
北京中科信电子装备有限公司
马国宇
.
中国专利
:CN111128658B
,2025-02-25
[2]
一种多个杯子测量离子束流垂直角度的方法
[P].
王肇龙
论文数:
0
引用数:
0
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0
王肇龙
.
中国专利
:CN112666593A
,2021-04-16
[3]
一种多个杯子测量离子束流垂直角度的方法
[P].
王肇龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
北京烁科中科信电子装备有限公司
北京烁科中科信电子装备有限公司
王肇龙
.
中国专利
:CN112666593B
,2024-12-03
[4]
一种改进型的离子束垂直角度测量方法
[P].
岳腾
论文数:
0
引用数:
0
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0
岳腾
.
中国专利
:CN108931808B
,2018-12-04
[5]
一种离子束角度测量装置
[P].
陈维
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
芯嵛半导体(上海)有限公司
芯嵛半导体(上海)有限公司
陈维
;
陈炯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯嵛半导体(上海)有限公司
芯嵛半导体(上海)有限公司
陈炯
.
中国专利
:CN221351760U
,2024-07-16
[6]
一种离子束流传输角度检测装置
[P].
马国宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马国宇
.
中国专利
:CN108962710A
,2018-12-07
[7]
一种离子束流测量头及离子束流测量装置
[P].
赵达逵
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
北京北方华创微电子装备有限公司
北京北方华创微电子装备有限公司
赵达逵
;
田甲
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京北方华创微电子装备有限公司
北京北方华创微电子装备有限公司
田甲
;
武冲
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京北方华创微电子装备有限公司
北京北方华创微电子装备有限公司
武冲
.
中国专利
:CN120018361A
,2025-05-16
[8]
离子束测量装置与方法
[P].
安东尼·雷诺
论文数:
0
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0
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安东尼·雷诺
;
艾立克·赫尔曼森
论文数:
0
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艾立克·赫尔曼森
;
约瑟·C·欧尔森
论文数:
0
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0
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约瑟·C·欧尔森
;
葛登·恩吉尔
论文数:
0
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葛登·恩吉尔
.
中国专利
:CN101120427A
,2008-02-06
[9]
离子束测量装置
[P].
林世文
论文数:
0
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林世文
;
蔡庆文
论文数:
0
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蔡庆文
;
吴书明
论文数:
0
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吴书明
;
徐大镇
论文数:
0
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0
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徐大镇
.
中国专利
:CN101064265A
,2007-10-31
[10]
一种离子束流密度测量装置
[P].
吴彩林
论文数:
0
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0
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吴彩林
;
代忠红
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0
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代忠红
;
宁平华
论文数:
0
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0
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0
宁平华
.
中国专利
:CN204102853U
,2015-01-14
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