半导体器件的制造方法

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专利类型
发明
申请号
CN200410003372.6
申请日
2004-01-29
公开(公告)号
CN1518090A
公开(公告)日
2004-08-04
发明(设计)人
桥本广司 高田和彦
申请人
申请人地址
日本神奈川县川崎市
IPC主分类号
H01L2176
IPC分类号
H01L218234
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司
代理人
李辉
法律状态
专利权的视为放弃
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件以及制造半导体器件的方法 [P]. 
鸣海俊一 .
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制造半导体器件的方法 [P]. 
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制造半导体器件的方法 [P]. 
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制造半导体器件的方法 [P]. 
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半导体器件和制造半导体器件的方法 [P]. 
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制造半导体器件的方法及半导体器件 [P]. 
卯尾崎宽 ;
武田康裕 ;
前川径一 ;
长谷川拓实 ;
舟山幸太 ;
丸山祥辉 ;
柴和利 ;
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[9]
制造半导体器件的方法以及半导体器件 [P]. 
徐丞伯 ;
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黄仲仁 .
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制造半导体器件的方法和半导体器件 [P]. 
吴云骥 ;
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