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光刻机剂量均匀性的测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201911039601.2
申请日
:
2019-10-29
公开(公告)号
:
CN112731768B
公开(公告)日
:
2021-04-30
发明(设计)人
:
刘泽华
陈震东
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区自由贸易试验区张东路1525号
IPC主分类号
:
G03F720
IPC分类号
:
代理机构
:
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
:
孟金喆
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-10-15
授权
授权
2021-05-21
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20191029
2021-04-30
公开
公开
共 50 条
[1]
用于光刻机设备测量组件的测量方法、装置及光刻机
[P].
冯建斌
论文数:
0
引用数:
0
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0
冯建斌
;
陈南曙
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈南曙
.
中国专利
:CN114063400B
,2022-02-18
[2]
一种光刻机成像质量测量方法
[P].
李术新
论文数:
0
引用数:
0
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0
李术新
;
王帆
论文数:
0
引用数:
0
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0
王帆
.
中国专利
:CN101169594A
,2008-04-30
[3]
光刻机物面测量方法及光刻机光学系统
[P].
张琪
论文数:
0
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0
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0
机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
张琪
;
符友银
论文数:
0
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0
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0
机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
符友银
;
沈全安
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
沈全安
;
盛昕
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
盛昕
.
中国专利
:CN120445090B
,2025-10-31
[4]
光刻机物面测量方法及光刻机光学系统
[P].
张琪
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
张琪
;
符友银
论文数:
0
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0
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机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
符友银
;
沈全安
论文数:
0
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0
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0
机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
沈全安
;
盛昕
论文数:
0
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0
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0
机构:
新毅东(北京)科技有限公司
新毅东(北京)科技有限公司
盛昕
.
中国专利
:CN120445090A
,2025-08-08
[5]
改善光照均匀性的光刻机
[P].
王诚
论文数:
0
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0
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0
王诚
;
刘庆锋
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘庆锋
.
中国专利
:CN202133859U
,2012-02-01
[6]
光刻机可变狭缝最佳位置的测量方法
[P].
宋平
论文数:
0
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0
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0
宋平
;
马明英
论文数:
0
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0
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0
马明英
.
中国专利
:CN103163741B
,2013-06-19
[7]
光刻机及光刻机的基底表面液膜蒸发功率测量方法
[P].
戴思雨
论文数:
0
引用数:
0
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0
戴思雨
.
中国专利
:CN115684249A
,2023-02-03
[8]
垂向测量装置、垂向测量方法及光刻机
[P].
蓝科
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
上海交通大学
上海交通大学
蓝科
;
陈彩莲
论文数:
0
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0
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机构:
上海交通大学
上海交通大学
陈彩莲
;
王易因
论文数:
0
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0
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机构:
上海交通大学
上海交通大学
王易因
;
刘逍
论文数:
0
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0
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机构:
上海交通大学
上海交通大学
刘逍
;
赖勇
论文数:
0
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0
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机构:
上海交通大学
上海交通大学
赖勇
;
李煜芝
论文数:
0
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0
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机构:
上海交通大学
上海交通大学
李煜芝
;
程建瑞
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海交通大学
上海交通大学
程建瑞
.
中国专利
:CN117192917B
,2024-12-31
[9]
一种光刻机水平测量装置及测量方法
[P].
王天明
论文数:
0
引用数:
0
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0
王天明
.
中国专利
:CN103809383A
,2014-05-21
[10]
光刻机成像质量及工件台定位精度的测量系统与测量方法
[P].
李术新
论文数:
0
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0
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0
李术新
;
王帆
论文数:
0
引用数:
0
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0
王帆
.
中国专利
:CN101261451A
,2008-09-10
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