光刻机剂量均匀性的测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201911039601.2
申请日
2019-10-29
公开(公告)号
CN112731768B
公开(公告)日
2021-04-30
发明(设计)人
刘泽华 陈震东
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区自由贸易试验区张东路1525号
IPC主分类号
G03F720
IPC分类号
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
孟金喆
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
用于光刻机设备测量组件的测量方法、装置及光刻机 [P]. 
冯建斌 ;
陈南曙 .
中国专利 :CN114063400B ,2022-02-18
[2]
一种光刻机成像质量测量方法 [P]. 
李术新 ;
王帆 .
中国专利 :CN101169594A ,2008-04-30
[3]
光刻机物面测量方法及光刻机光学系统 [P]. 
张琪 ;
符友银 ;
沈全安 ;
盛昕 .
中国专利 :CN120445090B ,2025-10-31
[4]
光刻机物面测量方法及光刻机光学系统 [P]. 
张琪 ;
符友银 ;
沈全安 ;
盛昕 .
中国专利 :CN120445090A ,2025-08-08
[5]
改善光照均匀性的光刻机 [P]. 
王诚 ;
刘庆锋 .
中国专利 :CN202133859U ,2012-02-01
[6]
光刻机可变狭缝最佳位置的测量方法 [P]. 
宋平 ;
马明英 .
中国专利 :CN103163741B ,2013-06-19
[7]
光刻机及光刻机的基底表面液膜蒸发功率测量方法 [P]. 
戴思雨 .
中国专利 :CN115684249A ,2023-02-03
[8]
垂向测量装置、垂向测量方法及光刻机 [P]. 
蓝科 ;
陈彩莲 ;
王易因 ;
刘逍 ;
赖勇 ;
李煜芝 ;
程建瑞 .
中国专利 :CN117192917B ,2024-12-31
[9]
一种光刻机水平测量装置及测量方法 [P]. 
王天明 .
中国专利 :CN103809383A ,2014-05-21
[10]
光刻机成像质量及工件台定位精度的测量系统与测量方法 [P]. 
李术新 ;
王帆 .
中国专利 :CN101261451A ,2008-09-10