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用于测试一个或多个被测设备的自动测试设备、用于自动测试一个或多个被测设备的方法、及使用缓冲存储器的计算机程序
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202080005127.6
申请日
:
2020-01-22
公开(公告)号
:
CN112703409A
公开(公告)日
:
2021-04-23
发明(设计)人
:
奥拉夫·波佩
克劳斯-迪特尔·稀里格斯
艾伦·克雷奇
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01R31319
IPC分类号
:
G01R313193
代理机构
:
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258
代理人
:
朱亦林
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-23
公开
公开
2021-05-11
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/319 申请日:20200122
共 50 条
[1]
用于测试一个或多个待测器件的自动测试设备和操作自动测试设备的方法
[P].
马克·莫辛格
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
马克·莫辛格
.
中国专利
:CN113474663A
,2021-10-01
[2]
用于测试一个或多个待测器件的自动测试设备和操作自动测试设备的方法
[P].
马克·莫辛格
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试公司
爱德万测试公司
马克·莫辛格
.
日本专利
:CN113474663B
,2025-03-07
[3]
用于测试一个或多个被测器件的自动化测试设备,用于一个或多个被测器件的自动化测试的方法以及用于应对命令差错的计算机程序
[P].
奥拉夫·波佩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
奥拉夫·波佩
;
克劳斯-迪特尔·稀里格斯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
克劳斯-迪特尔·稀里格斯
;
艾伦·克雷奇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
艾伦·克雷奇
.
中国专利
:CN111989580A
,2020-11-24
[4]
用于测试一个或多个被测器件的自动化测试设备、过程和计算机程序,其中不同的测试活动利用被测器件资源的子集
[P].
约亨·里瓦尔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试公司
爱德万测试公司
约亨·里瓦尔
.
日本专利
:CN114631031B
,2025-07-29
[5]
用于测试一个或多个被测器件的自动化测试设备、过程和计算机程序,其中不同的测试活动利用被测器件资源的子集
[P].
约亨·里瓦尔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
约亨·里瓦尔
.
中国专利
:CN114631031A
,2022-06-14
[6]
自动测试设备、被测设备、测试装置、使用触发线的方法
[P].
克劳斯-迪特·希里格斯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试集团
爱德万测试集团
克劳斯-迪特·希里格斯
;
马库斯·布克尔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试集团
爱德万测试集团
马库斯·布克尔
;
马库斯·舒尔茨-韦斯滕霍斯特
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试集团
爱德万测试集团
马库斯·舒尔茨-韦斯滕霍斯特
;
奥拉夫·珀普
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试集团
爱德万测试集团
奥拉夫·珀普
;
托马斯·格罗斯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试集团
爱德万测试集团
托马斯·格罗斯
.
日本专利
:CN118829890A
,2024-10-22
[7]
自动测试设备、被测设备、测试装置、使用测量请求的方法
[P].
克劳斯-迪特·希里格斯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试集团
爱德万测试集团
克劳斯-迪特·希里格斯
;
马库斯·布克尔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试集团
爱德万测试集团
马库斯·布克尔
;
马库斯·舒尔茨-韦斯滕霍斯特
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试集团
爱德万测试集团
马库斯·舒尔茨-韦斯滕霍斯特
;
奥拉夫·珀普
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试集团
爱德万测试集团
奥拉夫·珀普
;
托马斯·格罗斯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试集团
爱德万测试集团
托马斯·格罗斯
.
日本专利
:CN118871798A
,2024-10-29
[8]
用于测试多个被测设备的测试系统
[P].
唐锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
安波福电子(苏州)有限公司
安波福电子(苏州)有限公司
唐锋
;
张华峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
安波福电子(苏州)有限公司
安波福电子(苏州)有限公司
张华峰
;
徐素珍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
安波福电子(苏州)有限公司
安波福电子(苏州)有限公司
徐素珍
.
中国专利
:CN114374631B
,2024-11-22
[9]
用于测试多个被测设备的测试系统
[P].
唐锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐锋
;
张华峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张华峰
;
徐素珍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐素珍
.
中国专利
:CN114374631A
,2022-04-19
[10]
自动测试设备、方法、及计算机程序
[P].
奥拉夫·波佩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试公司
爱德万测试公司
奥拉夫·波佩
;
克劳斯-迪特尔·稀里格斯
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试公司
爱德万测试公司
克劳斯-迪特尔·稀里格斯
;
艾伦·克雷奇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱德万测试公司
爱德万测试公司
艾伦·克雷奇
.
日本专利
:CN112703409B
,2024-06-14
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