用于测试一个或多个被测器件的自动化测试设备、过程和计算机程序，其中不同的测试活动利用被测器件资源的子集

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202080076051.6

申请日：

2020-07-21

公开(公告)号：

CN114631031B

公开(公告)日：

2025-07-29

发明(设计)人：

约亨·里瓦尔

申请人：

爱德万测试公司

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G06F11/263 G01R31/319

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258

代理人：

桑敏

法律状态：

授权

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-29	授权	授权

共 50 条

[1]

用于测试一个或多个被测器件的自动化测试设备、过程和计算机程序，其中不同的测试活动利用被测器件资源的子集 [P].

约亨·里瓦尔 .

中国专利 :CN114631031A ,2022-06-14

[2]

用于测试一个或多个被测器件的自动化测试设备，用于一个或多个被测器件的自动化测试的方法以及用于应对命令差错的计算机程序 [P].

奥拉夫·波佩 ;

克劳斯-迪特尔·稀里格斯 ;

艾伦·克雷奇 .

中国专利 :CN111989580A ,2020-11-24

[3]

用于测试一个或多个被测设备的自动测试设备、用于自动测试一个或多个被测设备的方法、及使用缓冲存储器的计算机程序 [P].

奥拉夫·波佩 ;

克劳斯-迪特尔·稀里格斯 ;

艾伦·克雷奇 .

中国专利 :CN112703409A ,2021-04-23

[4]

用于测试包括处理单元和程序和/或数据存储器的被测装置的自动化测试设备和包括测试控制器、与被测装置的一个或多个接口、共享存储器的自动化测试设备以及用于测试被测装置的方法 [P].

弗兰克·亨塞尔 ;

奥拉夫·波佩 .

中国专利 :CN114190101A ,2022-03-15

[5]

用于测试被测器件的装置和方法 [P].

西格弗里德·波多尔斯基 ;

伯恩哈德·鲁斯 .

中国专利 :CN112789507A ,2021-05-11

[6]

用于测试被测器件的装置和方法 [P].

西格弗里德·波多尔斯基 ;

伯恩哈德·鲁斯 .

日本专利 :CN112789507B ,2024-10-18

[7]

用于测试多个被测器件的装置和方法 [P].

克劳斯-皮特·贝仁斯 ;

马克·毛斯恩格 .

中国专利 :CN103003708B ,2013-03-27

[8]

被测器件的测试电路和测试机 [P].

刘杰 ;

杨强 .

中国专利 :CN218068203U ,2022-12-16

[9]

用于空中测试的测试设备以及用于测试被测器件的方法 [P].

艾德里安·卡达尔达·加西亚 ;

布莱达·卡拉贾尼 ;

尼尔斯·彼得罗维奇 ;

爱德文·门策尔 ;

海因茨·梅莱因 ;

约翰内斯·科贝尔 ;

约亨·奥斯特 ;

文森特·阿巴迪 ;

延斯·瓦普勒 .

中国专利 :CN110661581A ,2020-01-07

[10]

用于测试多个被测设备的测试系统 [P].

唐锋 ;

张华峰 ;

徐素珍 .

中国专利 :CN114374631B ,2024-11-22

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