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同时检测多个具有不同能量的X射线的X射线杂质检测装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN02122277.0
申请日：
2002-06-04
公开(公告)号：
CN1389724A
公开(公告)日：
2003-01-08
发明(设计)人：
大槻智保
申请人：
申请人地址：
日本东京都
IPC主分类号：
G01N2318
IPC分类号：
G01N23083
代理机构：
永新专利商标代理有限公司
代理人：
韩宏
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2003-04-02 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 |
| 2021-08-24 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01N 23/18 变更事项:专利权人 变更前:安立工业解决方案有限公司 变更后:安立音费威斯股份有限公司 变更事项:地址 变更前:日本神奈川 变更后:日本神奈川 |
| 2002-10-02 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 |
| 2022-06-21 | 专利权的终止 | 专利权有效期届满 IPC(主分类):G01N 23/18 申请日:20020604 授权公告日:20061011 |
| 2003-01-08 | 公开 | 公开 |
| 2003-05-28 | 专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移 | 专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移 变更事项:申请人 变更前权利人:安立股份有限公司 变更后权利人:安立工业解决方案有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:日本东京都 变更后权利人:日本神奈川 登记生效日:20030403 |
| 2021-08-24 | 专利申请权、专利权的转移 | 专利权的转移 IPC(主分类):G01N 23/18 登记生效日:20210812 变更事项:专利权人 变更前权利人:安立音费威斯股份有限公司 变更后权利人:安立股份有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:日本神奈川 变更后权利人:日本神奈川 |
| 2006-10-11 | 授权 | 授权 |