一种单元测试方法、装置、系统及存储介质

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申请号
CN202211153703.9
申请日
2022-09-21
公开(公告)号
CN115495354A
公开(公告)日
2022-12-20
发明(设计)人
张克飞
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市罗湖区深南东路5047号
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
广东良马律师事务所 44395
代理人
马戎
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
单元测试方法、装置及存储介质 [P]. 
张金国 .
中国专利 :CN114840411B ,2025-02-11
[2]
一种单元测试方法、装置、系统及存储介质 [P]. 
赵晓龙 .
中国专利 :CN114168466A ,2022-03-11
[3]
一种单元测试方法、装置、系统及存储介质 [P]. 
赵晓龙 .
中国专利 :CN114168466B ,2025-10-03
[4]
单元测试方法、装置及存储介质 [P]. 
张金国 .
中国专利 :CN114840411A ,2022-08-02
[5]
一种单元测试方法、装置及存储介质 [P]. 
刘春勇 .
中国专利 :CN114490307B ,2024-08-02
[6]
一种单元测试方法、装置及存储介质 [P]. 
刘春勇 .
中国专利 :CN114490307A ,2022-05-13
[7]
一种单元测试方法及装置、存储介质 [P]. 
史金昊 ;
周德辉 .
中国专利 :CN113342696A ,2021-09-03
[8]
单元测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P]. 
欧燊 .
中国专利 :CN113448853A ,2021-09-28
[9]
单元测试方法、装置、测试设备及存储介质 [P]. 
欧燊 .
中国专利 :CN113448853B ,2024-06-25
[10]
单元测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
孔梦 ;
陈明 ;
申志敏 ;
朱怀宇 ;
赵英杰 ;
潘雨 ;
吴曾 .
中国专利 :CN118796658B ,2025-11-07