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等离子体速度测量方法及系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201610303629.2
申请日
:
2016-05-10
公开(公告)号
:
CN106018878B
公开(公告)日
:
2016-10-12
发明(设计)人
:
杨雄
王墨戈
程谋森
申请人
:
申请人地址
:
410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号
IPC主分类号
:
G01P526
IPC分类号
:
G01N2164
代理机构
:
长沙智嵘专利代理事务所 43211
代理人
:
胡亮
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-10-12
公开
公开
2017-05-10
授权
授权
2016-11-09
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101687280485 IPC(主分类):G01P 5/26 专利申请号:2016103036292 申请日:20160510
共 50 条
[1]
等离子体密度分布测量方法、系统及装置
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
杨州军
;
喻泽志
论文数:
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0
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
喻泽志
;
玄子健
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
玄子健
;
雷驰
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
雷驰
;
论文数:
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机构:
郭妍
;
朱思羽
论文数:
0
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0
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
朱思羽
.
中国专利
:CN118591069A
,2024-09-03
[2]
定向等离子体束离子平均速度的相关测量方法
[P].
宁中喜
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宁中喜
;
于达仁
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于达仁
;
李鸿
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李鸿
;
刘辉
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刘辉
;
丁永杰
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0
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0
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丁永杰
.
中国专利
:CN101221245A
,2008-07-16
[3]
一种等离子体风洞的等离子体参数测量方法
[P].
白冰
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白冰
;
丁亮
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丁亮
;
韩潇
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韩潇
;
张磊
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张磊
;
赵华
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赵华
;
李涛
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李涛
;
彭毓川
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彭毓川
;
顾志飞
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顾志飞
;
李高
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李高
;
吴达
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0
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吴达
.
中国专利
:CN112135408A
,2020-12-25
[4]
F密度测量方法、等离子体处理方法和等离子体处理装置
[P].
本田昌伸
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0
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0
本田昌伸
.
中国专利
:CN1828274A
,2006-09-06
[5]
等离子体处理装置及硅片温度测量方法
[P].
吴磊
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吴磊
;
涂乐义
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涂乐义
;
黄国民
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0
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0
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黄国民
.
中国专利
:CN108010838B
,2018-05-08
[6]
等离子体粒子和振荡传播速度测量装置及其测量方法
[P].
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机构:
张广川
;
孙宇哲
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0
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机构:
北京航空航天大学
北京航空航天大学
孙宇哲
;
论文数:
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机构:
王伟宗
;
论文数:
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机构:
汤海滨
;
论文数:
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机构:
李亦非
.
中国专利
:CN120751565A
,2025-10-03
[7]
等离子体相位分布的测量方法、测量装置
[P].
论文数:
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机构:
李欣焱
;
论文数:
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机构:
袁鹏
;
论文数:
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机构:
郑坚
.
中国专利
:CN116997067B
,2024-01-05
[8]
等离子体处理装置和温度测量方法
[P].
山田和人
论文数:
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0
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机构:
东京毅力科创株式会社
东京毅力科创株式会社
山田和人
;
田面木真也
论文数:
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机构:
东京毅力科创株式会社
东京毅力科创株式会社
田面木真也
.
日本专利
:CN119744437A
,2025-04-01
[9]
电弧等离子体发生器弧根旋转速度测量装置及测量方法
[P].
曾徽
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曾徽
;
欧东斌
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欧东斌
;
文鹏
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文鹏
;
杨国铭
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杨国铭
;
朱兴营
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朱兴营
.
中国专利
:CN114236168A
,2022-03-25
[10]
激光等离子体参数的测量装置及其测量方法
[P].
邓建
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邓建
;
徐至展
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徐至展
;
张正泉
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张正泉
;
胡雪原
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胡雪原
;
钟方川
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钟方川
;
覃岭
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覃岭
.
中国专利
:CN1079159C
,2000-07-19
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