探针和接触检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510836524.9

申请日：

2015-11-26

公开(公告)号：

CN105628987A

公开(公告)日：

2016-06-01

发明(设计)人：

安藤博康那须美佳

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇;张会华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-06-29	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101667883485 IPC(主分类):G01R 1/073 专利申请号:2015108365249 申请日:20151126
2016-06-01	公开	公开

共 50 条

[1]

探针、探针卡和接触检查装置 [P].

久我智昭 .

中国专利 :CN107870255A ,2018-04-03

[2]

探针卡和接触检查装置 [P].

吉冈哲也 ;

河野贵志 ;

牧瀬茂喜 ;

那须美佳 .

中国专利 :CN108351371B ,2018-07-31

[3]

接触探针和半导体检查装置 [P].

高田祯大 .

日本专利 :CN120779080A ,2025-10-14

[4]

接触探针及其制造方法和检查装置以及检查方法 [P].

平田嘉裕 ;

羽贺刚 ;

沼泽稔之 ;

仲前一男 ;

冈田一范 ;

依田润 .

中国专利 :CN1527945A ,2004-09-08

[5]

接触探针及其制造方法和检查装置以及检查方法 [P].

平田嘉裕 ;

羽贺刚 ;

沼泽稔之 ;

仲前一男 ;

冈田一范 ;

依田润 .

中国专利 :CN1693903A ,2005-11-09

[6]

探针、检查工具、检查单元和检查装置 [P].

笹野直哉 ;

寺西宏真 ;

酒井贵浩 ;

崔时薰 .

中国专利 :CN111239447B ,2020-06-05

[7]

探针、检查工具、检查单元和检查装置 [P].

笹野直哉 ;

寺西宏真 ;

酒井贵浩 .

中国专利 :CN111602062A ,2020-08-28

[8]

探针、检查工具、检查单元和检查装置 [P].

笹野直哉 ;

寺西宏真 ;

酒井贵浩 ;

崔时薰 .

中国专利 :CN111033272B ,2020-04-17

[9]

探针、检查工具、检查单元和检查装置 [P].

笹野直哉 ;

寺西宏真 ;

酒井贵浩 ;

崔时薰 .

中国专利 :CN111033273A ,2020-04-17

[10]

探针、检查工具、检查单元和检查装置 [P].

笹野直哉 ;

寺西宏真 ;

酒井贵浩 ;

崔时薰 .

中国专利 :CN114441813A ,2022-05-06

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