探针卡和接触检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201680061723.X

申请日：

2016-10-13

公开(公告)号：

CN108351371B

公开(公告)日：

2018-07-31

发明(设计)人：

吉冈哲也河野贵志牧瀬茂喜那须美佳

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

G01R1067

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇;张会华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-08-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/073 申请日:20161013
2018-07-31	公开	公开
2021-04-27	授权	授权

共 50 条

[1]

探针、探针卡和接触检查装置 [P].

久我智昭 .

中国专利 :CN107870255A ,2018-04-03

[2]

探针卡和检查装置 [P].

中田义朗 ;

菊地义德 ;

藤田洋征 .

中国专利 :CN103852607A ,2014-06-11

[3]

探针和接触检查装置 [P].

安藤博康 ;

那须美佳 .

中国专利 :CN105628987A ,2016-06-01

[4]

探针卡检查晶片和探针卡检查系统 [P].

池俊洙 ;

金檀义 ;

南汉直 ;

郑晋宇 .

中国专利 :CN110907788A ,2020-03-24

[5]

探针卡检查晶片和探针卡检查系统 [P].

池俊洙 ;

金檀义 ;

南汉直 ;

郑晋宇 .

韩国专利 :CN110907788B ,2024-09-10

[6]

器件检查电路、器件检查装置和探针卡 [P].

成川健一 .

中国专利 :CN109564262A ,2019-04-02

[7]

探针卡、使用该探针卡的检查装置及检查方法 [P].

齐藤祐贵 ;

深见美行 ;

清藤英博 .

中国专利 :CN107526018B9 ,2017-12-29

[8]

检查装置、探针卡及检查方法 [P].

小松茂和 ;

篠崎大 ;

坂本胜昭 .

中国专利 :CN101349736B ,2009-01-21

[9]

基板检查装置和探针卡输送方法 [P].

雨宫贵 .

中国专利 :CN104764986B ,2015-07-08

[10]

探针卡用接触端子和探针卡 [P].

星野智久 ;

雨宫贵 .

中国专利 :CN103063883A ,2013-04-24

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