探针卡和检查装置

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专利类型
发明
申请号
CN201310626022.4
申请日
2013-11-28
公开(公告)号
CN103852607A
公开(公告)日
2014-06-11
发明(设计)人
中田义朗 菊地义德 藤田洋征
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
G01R3126
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
刘新宇;张会华
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
探针、探针卡和接触检查装置 [P]. 
久我智昭 .
中国专利 :CN107870255A ,2018-04-03
[2]
探针卡和接触检查装置 [P]. 
吉冈哲也 ;
河野贵志 ;
牧瀬茂喜 ;
那须美佳 .
中国专利 :CN108351371B ,2018-07-31
[3]
探针卡检查晶片和探针卡检查系统 [P]. 
池俊洙 ;
金檀义 ;
南汉直 ;
郑晋宇 .
中国专利 :CN110907788A ,2020-03-24
[4]
探针卡检查晶片和探针卡检查系统 [P]. 
池俊洙 ;
金檀义 ;
南汉直 ;
郑晋宇 .
韩国专利 :CN110907788B ,2024-09-10
[5]
器件检查电路、器件检查装置和探针卡 [P]. 
成川健一 .
中国专利 :CN109564262A ,2019-04-02
[6]
探针卡、使用该探针卡的检查装置及检查方法 [P]. 
齐藤祐贵 ;
深见美行 ;
清藤英博 .
中国专利 :CN107526018B9 ,2017-12-29
[7]
检查装置、探针卡及检查方法 [P]. 
小松茂和 ;
篠崎大 ;
坂本胜昭 .
中国专利 :CN101349736B ,2009-01-21
[8]
基板检查装置和探针卡输送方法 [P]. 
雨宫贵 .
中国专利 :CN104764986B ,2015-07-08
[9]
探针卡和检查方法 [P]. 
菊田诚 ;
安藤秀宪 .
中国专利 :CN109564245A ,2019-04-02
[10]
探针卡和检查系统 [P]. 
成田寿男 ;
广田英辉 ;
下泽省吾 .
日本专利 :CN118475842A ,2024-08-09