探针卡检查晶片和探针卡检查系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910428101.1

申请日：

2019-05-22

公开(公告)号：

CN110907788B

公开(公告)日：

2024-09-10

发明(设计)人：

池俊洙金檀义南汉直郑晋宇

申请人：

三星电子株式会社

申请人地址：

韩国京畿道

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R1/073

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

王新华

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-10	授权	授权

共 50 条

[1]

探针卡检查晶片和探针卡检查系统 [P].

池俊洙 ;

金檀义 ;

南汉直 ;

郑晋宇 .

中国专利 :CN110907788A ,2020-03-24

[2]

探针卡和检查系统 [P].

成田寿男 ;

广田英辉 ;

下泽省吾 .

日本专利 :CN118475842A ,2024-08-09

[3]

包括检测探针的探针卡制造方法和探针卡、探针卡检查系统 [P].

李瀚茂 .

中国专利 :CN101762723A ,2010-06-30

[4]

探针卡和检查方法 [P].

菊田诚 ;

安藤秀宪 .

中国专利 :CN109564245A ,2019-04-02

[5]

探针卡和检查装置 [P].

中田义朗 ;

菊地义德 ;

藤田洋征 .

中国专利 :CN103852607A ,2014-06-11

[6]

探针、探针卡和接触检查装置 [P].

久我智昭 .

中国专利 :CN107870255A ,2018-04-03

[7]

晶片检查装置和探针卡的预热方法 [P].

山田浩史 ;

星野贵昭 ;

小嶋伸时 ;

三枝健 ;

下山宽志 .

中国专利 :CN102445573B ,2012-05-09

[8]

晶片检查用电路基板装置、探针卡和晶片检查装置 [P].

山田大典 ;

木村浩 ;

原富士雄 .

中国专利 :CN101346813A ,2009-01-14

[9]

探针卡和接触检查装置 [P].

吉冈哲也 ;

河野贵志 ;

牧瀬茂喜 ;

那须美佳 .

中国专利 :CN108351371B ,2018-07-31

[10]

探针卡、使用该探针卡的检查装置及检查方法 [P].

齐藤祐贵 ;

深见美行 ;

清藤英博 .

中国专利 :CN107526018B9 ,2017-12-29

← 1 2 3 4 5 →