硅深孔刻蚀方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710146151.1
申请日
2017-03-13
公开(公告)号
CN108573867B
公开(公告)日
2018-09-25
发明(设计)人
胡竞之
申请人
申请人地址
100176 北京市北京经济技术开发区文昌大道8号
IPC主分类号
H01L213065
IPC分类号
H01L2102 B81C100
代理机构
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112
代理人
彭瑞欣;张天舒
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
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硅深孔刻蚀方法 [P]. 
钦华林 .
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深硅孔刻蚀方法 [P]. 
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一种硅深孔刻蚀方法 [P]. 
李俊杰 ;
孟令款 ;
李春龙 ;
洪培真 ;
崔虎山 ;
李俊峰 ;
赵超 .
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深硅刻蚀方法和用于深硅刻蚀的设备 [P]. 
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郑有山 ;
李兴存 .
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[6]
一种深硅通孔的刻蚀方法 [P]. 
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硅刻蚀方法 [P]. 
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郑波 ;
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[8]
硅刻蚀方法 [P]. 
王晓娟 ;
郑波 ;
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吴鑫 ;
王春 ;
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中国专利 :CN111916349B ,2024-11-26
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深硅刻蚀方法、深硅槽结构及半导体器件 [P]. 
林源为 .
中国专利 :CN110534426A ,2019-12-03