存储器的测试装置和测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201410301292.2
申请日
2014-06-27
公开(公告)号
CN105336377B
公开(公告)日
2016-02-17
发明(设计)人
王林
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区浦东张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
IPC主分类号
G11C2908
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
骆苏华
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
存储器的测试装置和测试方法 [P]. 
王林 .
中国专利 :CN105206303B ,2015-12-30
[2]
存储器测试装置和存储器测试方法 [P]. 
濮必得 ;
殷和国 .
中国专利 :CN118571304A ,2024-08-30
[3]
存储器测试装置和存储器测试方法 [P]. 
濮必得 ;
殷和国 .
中国专利 :CN118571304B ,2024-11-05
[4]
存储器测试装置与存储器测试方法 [P]. 
苏锦荣 ;
黄睿夫 .
中国专利 :CN104835536A ,2015-08-12
[5]
存储器测试装置及存储器测试方法 [P]. 
中本幸夫 .
中国专利 :CN1233059A ,1999-10-27
[6]
用于存储器装置的测试装置和测试方法 [P]. 
郑然昊 ;
金度辉 ;
薛守皓 ;
金南勳 ;
金美婷 ;
辛贤真 ;
李在浩 .
韩国专利 :CN120612995A ,2025-09-09
[7]
存储器测试装置及应用该存储器测试装置的存储器测试机 [P]. 
资重兴 ;
连绅尧 .
中国专利 :CN2845101Y ,2006-12-06
[8]
存储器的测试方法及测试装置 [P]. 
第五天昊 .
中国专利 :CN114566207B ,2022-05-31
[9]
存储器的测试方法及测试装置 [P]. 
黄炜 ;
吴耆贤 .
中国专利 :CN113851182A ,2021-12-28
[10]
存储器的测试方法及测试装置 [P]. 
蓝国华 ;
吴耆贤 .
中国专利 :CN117334634A ,2024-01-02