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存储器的测试装置和测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201410301292.2
申请日
:
2014-06-27
公开(公告)号
:
CN105336377B
公开(公告)日
:
2016-02-17
发明(设计)人
:
王林
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区浦东张江高科技园区祖冲之路2288弄展讯中心1号楼
IPC主分类号
:
G11C2908
IPC分类号
:
代理机构
:
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
:
骆苏华
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-03-12
授权
授权
2016-02-17
公开
公开
2016-03-16
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101650130574 IPC(主分类):G11C 29/08 专利申请号:2014103012922 申请日:20140627
共 50 条
[1]
存储器的测试装置和测试方法
[P].
王林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王林
.
中国专利
:CN105206303B
,2015-12-30
[2]
存储器测试装置和存储器测试方法
[P].
濮必得
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
濮必得
;
殷和国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
殷和国
.
中国专利
:CN118571304A
,2024-08-30
[3]
存储器测试装置和存储器测试方法
[P].
濮必得
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
濮必得
;
殷和国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
殷和国
.
中国专利
:CN118571304B
,2024-11-05
[4]
存储器测试装置与存储器测试方法
[P].
苏锦荣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
苏锦荣
;
黄睿夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄睿夫
.
中国专利
:CN104835536A
,2015-08-12
[5]
存储器测试装置及存储器测试方法
[P].
中本幸夫
论文数:
0
引用数:
0
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0
中本幸夫
.
中国专利
:CN1233059A
,1999-10-27
[6]
用于存储器装置的测试装置和测试方法
[P].
郑然昊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
郑然昊
;
金度辉
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0
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0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金度辉
;
薛守皓
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0
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0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
薛守皓
;
金南勳
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0
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0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金南勳
;
金美婷
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0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金美婷
;
辛贤真
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0
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0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
辛贤真
;
李在浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
李在浩
.
韩国专利
:CN120612995A
,2025-09-09
[7]
存储器测试装置及应用该存储器测试装置的存储器测试机
[P].
资重兴
论文数:
0
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0
h-index:
0
资重兴
;
连绅尧
论文数:
0
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0
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0
连绅尧
.
中国专利
:CN2845101Y
,2006-12-06
[8]
存储器的测试方法及测试装置
[P].
第五天昊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
第五天昊
.
中国专利
:CN114566207B
,2022-05-31
[9]
存储器的测试方法及测试装置
[P].
黄炜
论文数:
0
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0
h-index:
0
黄炜
;
吴耆贤
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴耆贤
.
中国专利
:CN113851182A
,2021-12-28
[10]
存储器的测试方法及测试装置
[P].
蓝国华
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
蓝国华
;
吴耆贤
论文数:
0
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0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
吴耆贤
.
中国专利
:CN117334634A
,2024-01-02
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