半导体器件及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110747971.2
申请日
2021-07-02
公开(公告)号
CN113675220A
公开(公告)日
2021-11-19
发明(设计)人
郑有宏 张煜群 李静宜 李汝谅
申请人
申请人地址
中国台湾新竹
IPC主分类号
H01L2712
IPC分类号
H01L21762
代理机构
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409
代理人
章社杲;李伟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
郑有宏 ;
张煜群 ;
李静宜 ;
李汝谅 .
中国专利 :CN113675220B ,2024-09-13
[2]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
洪中山 .
中国专利 :CN103545179B ,2014-01-29
[3]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
程勇 ;
洪中山 .
中国专利 :CN105448725B ,2016-03-30
[4]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
龙俊名 ;
林颂恩 .
中国专利 :CN120676653A ,2025-09-19
[5]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
高旻圣 .
中国专利 :CN102347229A ,2012-02-08
[6]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
赵海 .
中国专利 :CN105826194A ,2016-08-03
[7]
半导体器件、半导体器件的衬底结构及其形成方法 [P]. 
M·艾昂 ;
王新琳 ;
杨敏 .
中国专利 :CN100536144C ,2007-10-31
[8]
电容器、半导体器件及其形成方法 [P]. 
陈轶群 ;
蒲贤勇 ;
陈宗高 ;
王刚宁 ;
王海强 .
中国专利 :CN104701136A ,2015-06-10
[9]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
陈卓凡 .
中国专利 :CN108735807B ,2018-11-02
[10]
半导体器件及其形成方法 [P]. 
洪中山 .
中国专利 :CN103426755A ,2013-12-04