一种厚膜混合集成电路测试装置

被引：0

申请号：

CN202210131526.8

申请日：

2022-02-14

公开(公告)号：

CN114487510A

公开(公告)日：

2022-05-13

发明(设计)人：

张祥

申请人：

申请人地址：

276100 山东省临沂市郯城县郯东路437号工业园区4572

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R31303 B65G3506

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-13	公开	公开
2022-06-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20220214

共 50 条

[1]

一种厚膜混合集成电路测试装置 [P].

聂涛 .

中国专利 :CN220626447U ,2024-03-19

[2]

一种厚膜混合集成电路测试装置 [P].

王炯一 ;

冷和平 ;

张斌 ;

吴辉 .

中国专利 :CN216849894U ,2022-06-28

[3]

厚膜混合集成电路测试仪 [P].

董晓文 ;

张秋萍 .

中国专利 :CN2098041U ,1992-03-04

[4]

厚膜混合集成电路测试仪 [P].

刘国庆 .

中国专利 :CN205450198U ,2016-08-10

[5]

厚膜混合集成电路测试系统 [P].

刘国庆 .

中国专利 :CN205404750U ,2016-07-27

[6]

一种数模混合集成电路测试装置及测试方法 [P].

唐彩彬 ;

奚留华 ;

张凯虹 ;

孙恺凡 ;

虞勇坚 ;

解维坤 ;

韩新峰 ;

陆亚兵 ;

刘波 .

中国专利 :CN113238145A ,2021-08-10

[7]

厚膜混合集成电路模块 [P].

刘国庆 .

中国专利 :CN203536437U ,2014-04-09

[8]

一种厚膜混合集成电路的烘干装置 [P].

李子考 ;

喻凤翔 .

中国专利 :CN210399752U ,2020-04-24

[9]

一种厚膜混合集成电路的烘干装置 [P].

王炯一 ;

冷和平 ;

张斌 ;

吴辉 .

中国专利 :CN216845442U ,2022-06-28

[10]

厚膜混合集成电路自动测试系统 [P].

刘国庆 .

中国专利 :CN203535188U ,2014-04-09

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