测试方法、装置、介质和电子设备

被引：0

申请号：

CN202210752230.8

申请日：

2022-06-28

公开(公告)号：

CN115098308A

公开(公告)日：

2022-09-23

发明(设计)人：

李憬然马泽君

申请人：

申请人地址：

101299 北京市平谷区林荫北街13号信息大厦802室

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G06F1342

代理机构：

北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447

代理人：

曹寒梅

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-23	公开	公开

共 50 条

[1]

设备测试方法、设备测试装置、电子设备和存储介质 [P].

王哲夫 ;

李航 .

中国专利 :CN119003304A ,2024-11-22

[2]

测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

袁子惠 .

中国专利 :CN114116512A ,2022-03-01

[3]

测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

鹿存义 ;

王马俊 ;

刘蔓莉 ;

刘青松 ;

柴兆文 ;

黄建新 ;

邹小兵 .

中国专利 :CN115686960A ,2023-02-03

[4]

测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

倪丙庆 .

中国专利 :CN113190451A ,2021-07-30

[5]

测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

倪丙庆 .

中国专利 :CN113190451B ,2025-03-21

[6]

测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

鹿存义 ;

王马俊 ;

刘蔓莉 ;

刘青松 ;

柴兆文 ;

黄建新 ;

邹小兵 .

中国专利 :CN115686960B ,2024-11-01

[7]

电子设备振动测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高海 .

中国专利 :CN111829742A ,2020-10-27

[8]

测试效率获取方法、存储介质和电子设备 [P].

黄良少 .

中国专利 :CN111624959A ,2020-09-04

[9]

测试方法、电子设备和存储介质 [P].

郭晓宇 ;

郭文潇 ;

徐重阳 .

中国专利 :CN120523742A ,2025-08-22

[10]

测试方法、电子设备和存储介质 [P].

郭晓宇 ;

郭文潇 ;

徐重阳 .

中国专利 :CN120523742B ,2025-10-10

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