一种晶圆抛光检测工装

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202021129019.3
申请日
2020-06-17
公开(公告)号
CN212779096U
公开(公告)日
2021-03-23
发明(设计)人
雷超
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市相城区太平工业园富泰路3号
IPC主分类号
G01B1100
IPC分类号
G01B1130
代理机构
苏州市指南针专利代理事务所(特殊普通合伙) 32268
代理人
金香云
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种晶圆抛光检测工装 [P]. 
贺贤汉 ;
佐藤泰幸 ;
原英樹 ;
杉原一男 .
中国专利 :CN215847489U ,2022-02-18
[2]
一种晶硅晶圆抛光用工装 [P]. 
高鹏程 .
中国专利 :CN212265530U ,2021-01-01
[3]
一种晶圆清洗检测装置 [P]. 
雷超 .
中国专利 :CN212625496U ,2021-02-26
[4]
一种晶圆用定位工装 [P]. 
郭忠 .
中国专利 :CN220963279U ,2024-05-14
[5]
一种晶圆平整度检测设备 [P]. 
沈军 .
中国专利 :CN222260966U ,2024-12-27
[6]
一种晶圆抛光垫及晶圆抛光装置 [P]. 
李洪亮 ;
沈思情 ;
张俊宝 ;
陈猛 .
中国专利 :CN211193450U ,2020-08-07
[7]
一种晶圆清洗抛光装置 [P]. 
何波 ;
阮旖丽 .
中国专利 :CN223277753U ,2025-08-29
[8]
一种晶圆边缘检测装置及其晶圆检测设备 [P]. 
吴坤 ;
钟小江 .
中国专利 :CN221262342U ,2024-07-02
[9]
一种晶圆抛光机零件加工工装 [P]. 
高鹏程 .
中国专利 :CN209579207U ,2019-11-05
[10]
一种半导体晶圆检测工装 [P]. 
范秀丽 ;
王春萍 ;
李梦超 .
中国专利 :CN220774333U ,2024-04-12