一种基于FPGA的存储芯片测试电路

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专利类型
实用新型
申请号
CN202021498440.1
申请日
2020-07-24
公开(公告)号
CN212846772U
公开(公告)日
2021-03-30
发明(设计)人
李斌
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
G11C2956
代理机构
深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689
代理人
林国友
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
存储芯片测试电路装置 [P]. 
杨正杰 .
中国专利 :CN208589269U ,2019-03-08
[2]
存储芯片的测试电路及测试系统 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
徐永刚 ;
陈玲果 .
中国专利 :CN223155676U ,2025-07-25
[3]
测试电路及采用该测试电路的存储芯片 [P]. 
王佳 ;
张良 ;
李红文 .
中国专利 :CN210271794U ,2020-04-07
[4]
一种存储芯片测试用的测试载具 [P]. 
张治强 .
中国专利 :CN220856120U ,2024-04-26
[5]
存储芯片测试装置和存储芯片测试系统 [P]. 
孙文琪 .
中国专利 :CN222337932U ,2025-01-10
[6]
一种存储芯片测试电路装置以及系统 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN208848622U ,2019-05-10
[7]
存储芯片的测试电路及测试系统 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
徐永刚 ;
陈玲果 .
中国专利 :CN119068966A ,2024-12-03
[8]
一种存储芯片测试夹具 [P]. 
丛维 ;
金生 .
中国专利 :CN212060331U ,2020-12-01
[9]
一种存储芯片测试夹具 [P]. 
陈宗廷 ;
朱放中 .
中国专利 :CN220399501U ,2024-01-26
[10]
测试电路及采用该测试电路的存储芯片 [P]. 
王佳 ;
张良 ;
李红文 .
中国专利 :CN112669895A ,2021-04-16