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一种基于FPGA的存储芯片测试电路
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202021498440.1
申请日
:
2020-07-24
公开(公告)号
:
CN212846772U
公开(公告)日
:
2021-03-30
发明(设计)人
:
李斌
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市南山区沙河街道华侨城创意文化园开平街2号G2栋2楼
IPC主分类号
:
G06F1122
IPC分类号
:
G11C2956
代理机构
:
深圳市诺正鑫泽知识产权代理有限公司 44689
代理人
:
林国友
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-03-30
授权
授权
共 50 条
[1]
存储芯片测试电路装置
[P].
杨正杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨正杰
.
中国专利
:CN208589269U
,2019-03-08
[2]
存储芯片的测试电路及测试系统
[P].
孙成思
论文数:
0
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
孙成思
;
何瀚
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0
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
何瀚
;
王灿
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
王灿
;
徐永刚
论文数:
0
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
徐永刚
;
陈玲果
论文数:
0
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
陈玲果
.
中国专利
:CN223155676U
,2025-07-25
[3]
测试电路及采用该测试电路的存储芯片
[P].
王佳
论文数:
0
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0
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0
王佳
;
张良
论文数:
0
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0
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0
张良
;
李红文
论文数:
0
引用数:
0
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0
李红文
.
中国专利
:CN210271794U
,2020-04-07
[4]
一种存储芯片测试用的测试载具
[P].
张治强
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
广东长兴半导体科技有限公司
广东长兴半导体科技有限公司
张治强
.
中国专利
:CN220856120U
,2024-04-26
[5]
存储芯片测试装置和存储芯片测试系统
[P].
孙文琪
论文数:
0
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0
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0
机构:
联和存储科技(江苏)有限公司
联和存储科技(江苏)有限公司
孙文琪
.
中国专利
:CN222337932U
,2025-01-10
[6]
一种存储芯片测试电路装置以及系统
[P].
不公告发明人
论文数:
0
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0
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0
不公告发明人
.
中国专利
:CN208848622U
,2019-05-10
[7]
存储芯片的测试电路及测试系统
[P].
孙成思
论文数:
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
孙成思
;
何瀚
论文数:
0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
何瀚
;
王灿
论文数:
0
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
王灿
;
徐永刚
论文数:
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
徐永刚
;
陈玲果
论文数:
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
陈玲果
.
中国专利
:CN119068966A
,2024-12-03
[8]
一种存储芯片测试夹具
[P].
丛维
论文数:
0
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0
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0
丛维
;
金生
论文数:
0
引用数:
0
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0
金生
.
中国专利
:CN212060331U
,2020-12-01
[9]
一种存储芯片测试夹具
[P].
陈宗廷
论文数:
0
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机构:
深圳市大为创芯微电子科技有限公司
深圳市大为创芯微电子科技有限公司
陈宗廷
;
朱放中
论文数:
0
引用数:
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机构:
深圳市大为创芯微电子科技有限公司
深圳市大为创芯微电子科技有限公司
朱放中
.
中国专利
:CN220399501U
,2024-01-26
[10]
测试电路及采用该测试电路的存储芯片
[P].
王佳
论文数:
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王佳
;
张良
论文数:
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0
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张良
;
李红文
论文数:
0
引用数:
0
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0
李红文
.
中国专利
:CN112669895A
,2021-04-16
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