测试电路及采用该测试电路的存储芯片

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921731774.6

申请日：

2019-10-16

公开(公告)号：

CN210271794U

公开(公告)日：

2020-04-07

发明(设计)人：

王佳张良李红文

申请人：

申请人地址：

230001 安徽省合肥市蜀山区经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室

IPC主分类号：

G11C2940

IPC分类号：

G11C2912

代理机构：

上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294

代理人：

孙佳胤;高翠花

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-07	授权	授权

共 50 条

[1]

测试电路及采用该测试电路的存储芯片 [P].

王佳 ;

张良 ;

李红文 .

中国专利 :CN112669895A ,2021-04-16

[2]

存储芯片的测试电路及测试系统 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

徐永刚 ;

陈玲果 .

中国专利 :CN223155676U ,2025-07-25

[3]

存储芯片测试电路装置 [P].

杨正杰 .

中国专利 :CN208589269U ,2019-03-08

[4]

存储芯片的测试电路及测试系统 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

徐永刚 ;

陈玲果 .

中国专利 :CN119068966A ,2024-12-03

[5]

存储芯片测试电路装置和测试方法 [P].

杨正杰 .

中国专利 :CN108806762A ,2018-11-13

[6]

存储芯片及其测试电路与测试方法 [P].

王颀 ;

张桔萍 ;

刘飞 ;

霍宗亮 .

中国专利 :CN111292797B ,2020-06-16

[7]

存储芯片测试组件及存储芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘小刚 ;

王万军 .

中国专利 :CN214428332U ,2021-10-19

[8]

一种基于FPGA的存储芯片测试电路 [P].

李斌 .

中国专利 :CN212846772U ,2021-03-30

[9]

一种存储芯片测试电路装置以及系统 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN208848622U ,2019-05-10

[10]

一种测试电路、存储芯片及模组设备 [P].

彭雨程 ;

贾雪绒 .

中国专利 :CN117330996A ,2024-01-02

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