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一种测试电路、存储芯片及模组设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311267863.0
申请日
:
2023-09-28
公开(公告)号
:
CN117330996A
公开(公告)日
:
2024-01-02
发明(设计)人
:
彭雨程
贾雪绒
申请人
:
西安紫光国芯半导体股份有限公司
申请人地址
:
710065 陕西省西安市高新区丈八街办高新六路38号A座4楼
IPC主分类号
:
G01R31/66
IPC分类号
:
G01R1/28
代理机构
:
北京众达德权知识产权代理有限公司 11570
代理人
:
刘杰
法律状态
:
公开
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-02
公开
公开
2024-01-19
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/66申请日:20230928
共 50 条
[1]
存储芯片测试电路装置
[P].
杨正杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨正杰
.
中国专利
:CN208589269U
,2019-03-08
[2]
存储芯片的测试电路及测试系统
[P].
孙成思
论文数:
0
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
孙成思
;
何瀚
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0
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0
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
何瀚
;
王灿
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
王灿
;
徐永刚
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0
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
徐永刚
;
陈玲果
论文数:
0
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
陈玲果
.
中国专利
:CN119068966A
,2024-12-03
[3]
存储芯片的测试电路及测试系统
[P].
孙成思
论文数:
0
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0
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0
机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
孙成思
;
何瀚
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
何瀚
;
王灿
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0
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
王灿
;
徐永刚
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
徐永刚
;
陈玲果
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机构:
成都态坦测试科技有限公司
成都态坦测试科技有限公司
陈玲果
.
中国专利
:CN223155676U
,2025-07-25
[4]
一种存储芯片测试电路装置以及系统
[P].
不公告发明人
论文数:
0
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0
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0
不公告发明人
.
中国专利
:CN208848622U
,2019-05-10
[5]
测试电路及采用该测试电路的存储芯片
[P].
王佳
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0
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0
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王佳
;
张良
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0
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0
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张良
;
李红文
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0
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0
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0
李红文
.
中国专利
:CN210271794U
,2020-04-07
[6]
测试电路及采用该测试电路的存储芯片
[P].
王佳
论文数:
0
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0
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0
王佳
;
张良
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0
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张良
;
李红文
论文数:
0
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0
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0
李红文
.
中国专利
:CN112669895A
,2021-04-16
[7]
存储芯片及存储模组
[P].
支凡
论文数:
0
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0
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机构:
西安芯存半导体有限公司
西安芯存半导体有限公司
支凡
;
邓超
论文数:
0
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0
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0
机构:
西安芯存半导体有限公司
西安芯存半导体有限公司
邓超
.
中国专利
:CN121171298A
,2025-12-19
[8]
存储芯片测试组件及存储芯片测试系统
[P].
孙成思
论文数:
0
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0
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0
孙成思
;
孙日欣
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0
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0
孙日欣
;
刘小刚
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0
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0
刘小刚
;
王万军
论文数:
0
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0
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0
王万军
.
中国专利
:CN214428332U
,2021-10-19
[9]
驱动电路及存储芯片
[P].
朱磊
论文数:
0
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0
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0
朱磊
;
秦建勇
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0
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0
秦建勇
.
中国专利
:CN213717928U
,2021-07-16
[10]
驱动电路及存储芯片
[P].
朱磊
论文数:
0
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0
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0
朱磊
;
秦建勇
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0
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0
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0
秦建勇
.
中国专利
:CN114553143A
,2022-05-27
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