一种测试电路、存储芯片及模组设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311267863.0
申请日
2023-09-28
公开(公告)号
CN117330996A
公开(公告)日
2024-01-02
发明(设计)人
彭雨程 贾雪绒
申请人
西安紫光国芯半导体股份有限公司
申请人地址
710065 陕西省西安市高新区丈八街办高新六路38号A座4楼
IPC主分类号
G01R31/66
IPC分类号
G01R1/28
代理机构
北京众达德权知识产权代理有限公司 11570
代理人
刘杰
法律状态
公开
国省代码
江苏省 常州市
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共 50 条
[1]
存储芯片测试电路装置 [P]. 
杨正杰 .
中国专利 :CN208589269U ,2019-03-08
[2]
存储芯片的测试电路及测试系统 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
徐永刚 ;
陈玲果 .
中国专利 :CN119068966A ,2024-12-03
[3]
存储芯片的测试电路及测试系统 [P]. 
孙成思 ;
何瀚 ;
王灿 ;
徐永刚 ;
陈玲果 .
中国专利 :CN223155676U ,2025-07-25
[4]
一种存储芯片测试电路装置以及系统 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN208848622U ,2019-05-10
[5]
测试电路及采用该测试电路的存储芯片 [P]. 
王佳 ;
张良 ;
李红文 .
中国专利 :CN210271794U ,2020-04-07
[6]
测试电路及采用该测试电路的存储芯片 [P]. 
王佳 ;
张良 ;
李红文 .
中国专利 :CN112669895A ,2021-04-16
[7]
存储芯片及存储模组 [P]. 
支凡 ;
邓超 .
中国专利 :CN121171298A ,2025-12-19
[8]
存储芯片测试组件及存储芯片测试系统 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘小刚 ;
王万军 .
中国专利 :CN214428332U ,2021-10-19
[9]
驱动电路及存储芯片 [P]. 
朱磊 ;
秦建勇 .
中国专利 :CN213717928U ,2021-07-16
[10]
驱动电路及存储芯片 [P]. 
朱磊 ;
秦建勇 .
中国专利 :CN114553143A ,2022-05-27