半导体集成电路及其检查方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410033451.1

申请日：

2004-04-09

公开(公告)号：

CN1536581A

公开(公告)日：

2004-10-13

发明(设计)人：

市川修

申请人：

申请人地址：

日本大阪府门真市

IPC主分类号：

G11C2900

IPC分类号：

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

刘宗杰;叶恺东

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2004-12-29	实质审查的生效	实质审查的生效
2004-10-13	公开	公开
2009-04-29	授权	授权
2011-06-15	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101079129427 IPC(主分类):G11C 29/00 专利号:ZL2004100334511 申请日:20040409 授权公告日:20090429 终止日期:20100409

共 50 条

[1]

半导体集成电路及其检查方法 [P].

兵部和之 .

中国专利 :CN101384914A ,2009-03-11

[2]

半导体集成电路及其检查方法 [P].

青木茂树 ;

上条治雄 .

中国专利 :CN1266755C ,2004-07-28

[3]

半导体集成电路、检查装置和半导体集成电路的检查方法 [P].

饭田泉 ;

伊野口诚 .

中国专利 :CN1985181A ,2007-06-20

[4]

半导体集成电路及半导体集成电路的检查方法 [P].

三宅直已 ;

中田义朗 .

中国专利 :CN101165503A ,2008-04-23

[5]

半导体集成电路的设计方法及其半导体集成电路装置 [P].

渡部隆夫 ;

鲇川一重 ;

藤田良 ;

柳泽一正 ;

田中均 .

中国专利 :CN1077727C ,1997-10-29

[6]

半导体集成电路装置和半导体集成电路装置的检查方法 [P].

佐藤尭生 ;

根本一则 ;

小田部晃 .

日本专利 :CN113711065B ,2024-07-30

[7]

半导体集成电路装置的检查方法及半导体集成电路装置 [P].

中村共则 .

中国专利 :CN102947927A ,2013-02-27

[8]

半导体集成电路装置和半导体集成电路装置的检查方法 [P].

佐藤尭生 ;

根本一则 ;

小田部晃 .

中国专利 :CN113711065A ,2021-11-26

[9]

半导体集成电路装置的检查方法及半导体集成电路装置 [P].

中村共则 .

中国专利 :CN102947926B ,2013-02-27

[10]

半导体集成电路及控制半导体集成电路的方法 [P].

川口雄野 ;

熊野一夫 .

中国专利 :CN109690952A ,2019-04-26

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