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一种砂轮划片机的接触测高装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202111609276.6
申请日
:
2021-12-27
公开(公告)号
:
CN114234788A
公开(公告)日
:
2022-03-25
发明(设计)人
:
袁慧珠
张明明
董佳文
董海昌
吴德宝
刘佳梦
申请人
:
申请人地址
:
110000 辽宁省沈阳市皇姑区步云山路53号
IPC主分类号
:
G01B706
IPC分类号
:
G01B700
G01R3158
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-25
公开
公开
2022-04-12
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 7/06 申请日:20211227
共 50 条
[1]
一种划片机非接触测高装置
[P].
张光明
论文数:
0
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0
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0
张光明
.
中国专利
:CN207303045U
,2018-05-01
[2]
划片机及划片机接触测高装置、划片机测高方法
[P].
赵彤宇
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赵彤宇
;
石云鹏
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石云鹏
;
司亚辉
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司亚辉
;
孙亚辉
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孙亚辉
;
郑海全
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0
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郑海全
.
中国专利
:CN110487151A
,2019-11-22
[3]
一种带有接触测高装置的划片机
[P].
孙家全
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机构:
沈阳汉为科技有限公司
沈阳汉为科技有限公司
孙家全
;
白雪峰
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机构:
沈阳汉为科技有限公司
沈阳汉为科技有限公司
白雪峰
;
徐长远
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机构:
沈阳汉为科技有限公司
沈阳汉为科技有限公司
徐长远
.
中国专利
:CN117565246A
,2024-02-20
[4]
一种带有接触测高装置的划片机
[P].
孙家全
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机构:
沈阳汉为科技有限公司
沈阳汉为科技有限公司
孙家全
;
白雪峰
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机构:
沈阳汉为科技有限公司
沈阳汉为科技有限公司
白雪峰
;
徐长远
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机构:
沈阳汉为科技有限公司
沈阳汉为科技有限公司
徐长远
.
中国专利
:CN117565246B
,2024-03-15
[5]
一种划片机接触测高系统
[P].
张光明
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张光明
.
中国专利
:CN207529910U
,2018-06-22
[6]
接触式测高装置及划片机
[P].
王超
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王超
;
石云鹏
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石云鹏
;
司亚辉
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司亚辉
;
张明洋
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张明洋
;
李港生
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李港生
.
中国专利
:CN217344961U
,2022-09-02
[7]
一种划片机测高装置及测高方法
[P].
王俊杰
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机构:
北京中电科电子装备有限公司
北京中电科电子装备有限公司
王俊杰
;
刘婷婷
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机构:
北京中电科电子装备有限公司
北京中电科电子装备有限公司
刘婷婷
;
孟庆嵩
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机构:
北京中电科电子装备有限公司
北京中电科电子装备有限公司
孟庆嵩
.
中国专利
:CN119915171A
,2025-05-02
[8]
一种非接触测高装置及划片机
[P].
刘荒
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
刘荒
;
陈扬
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
陈扬
;
唐贵富
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
唐贵富
;
吕艳
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
吕艳
;
刘光恒
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
刘光恒
;
张春光
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
张春光
;
韩华超
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
韩华超
;
赵博仲
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
赵博仲
;
张志勇
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
张志勇
;
冯银凤
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
冯银凤
;
尹宁
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沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
尹宁
;
李东旭
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机构:
沈阳仪表科学研究院有限公司
沈阳仪表科学研究院有限公司
李东旭
.
中国专利
:CN120063139A
,2025-05-30
[9]
一种划片机用非接触测高装置
[P].
杨云龙
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杨云龙
;
于光明
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于光明
;
胡章坤
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胡章坤
.
中国专利
:CN111618724A
,2020-09-04
[10]
划片机测高方法、测高装置及划片机
[P].
赵彤宇
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赵彤宇
;
司亚辉
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司亚辉
;
郑海全
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郑海全
;
李港生
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李港生
;
王亚明
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王亚明
.
中国专利
:CN110549507B
,2019-12-10
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