分析物检测方法和分析物检测集成电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210297427.3

申请日：

2012-08-20

公开(公告)号：

CN102954984A

公开(公告)日：

2013-03-06

发明(设计)人：

菲利浦·弗雷德里弗里斯科·耶德玛戴维·斯滕温克尔希尔柯·瑟伊

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

G01N2700

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

倪斌

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-05-13	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101714949282 IPC(主分类):G01N 27/00 专利申请号:2012102974273 申请公布日:20130306
2013-03-06	公开	公开
2013-04-03	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101430518721 IPC(主分类):G01N 27/00 专利申请号:2012102974273 申请日:20120820

共 50 条

[1]

新型集成电路失效分析检测方法 [P].

曹贝贝 .

中国专利 :CN112798931A ,2021-05-14

[2]

新型集成电路失效分析检测方法 [P].

曹贝贝 .

中国专利 :CN112798931B ,2025-01-24

[3]

新型集成电路失效分析检测方法 [P].

龚羽 ;

沈春 ;

周耀 .

中国专利 :CN112735968A ,2021-04-30

[4]

用于分析物检测的三维集成电路 [P].

S·达塔 ;

S·拉马纳坦 ;

J·T·卡瓦利罗斯 ;

J·K·布拉斯克 ;

B·巴内特 .

中国专利 :CN101484978A ,2009-07-15

[5]

分析物检测方法 [P].

史蒂文·安德鲁·罗斯 ;

艾琳·简·麦格特里克 ;

朱莉·理查兹 ;

保罗·布兰登·莫纳汉 .

英国专利 :CN118891510A ,2024-11-01

[6]

分析物检测方法 [P].

G·帕尔兹 ;

M·吴 .

中国专利 :CN111295577A ,2020-06-16

[7]

分析物检测方法和设备 [P].

菲特·恩古耶恩 ;

菲利浦·弗雷德里 ;

阿克塞尔·纳克尔特斯 ;

尤里·波诺马廖夫 .

中国专利 :CN104833799A ,2015-08-12

[8]

集成电路分析系统和方法 [P].

维亚切斯拉夫·L·扎瓦迪卡 ;

爱德华·凯斯 .

中国专利 :CN101931395A ,2010-12-29

[9]

集成电路分析方法和装置 [P].

丁柯 ;

张崇茜 ;

陈瑞 .

中国专利 :CN117077602B ,2024-02-09

[10]

集成电路内部电压检测电路、检测方法以及集成电路 [P].

张俊谋 ;

卢山 ;

张闯 ;

陈一敏 ;

王剑 ;

成园林 .

中国专利 :CN115308467A ,2022-11-08

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