集成电路分析方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311320393.X

申请日：

2023-10-12

公开(公告)号：

CN117077602B

公开(公告)日：

2024-02-09

发明(设计)人：

丁柯张崇茜陈瑞

申请人：

北京芯愿景软件技术股份有限公司

申请人地址：

100095 北京市海淀区高里掌路1号院2号楼芯愿景

IPC主分类号：

G06F30/367

IPC分类号：

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258

代理人：

赵秀芹

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-09	授权	授权

共 50 条

[1]

用于分析集成电路的方法、设备和集成电路 [P].

马特吉·戈森斯 ;

弗兰克·萨卡里亚斯 .

中国专利 :CN101213465A ,2008-07-02

[2]

集成电路分析系统和方法 [P].

维亚切斯拉夫·L·扎瓦迪卡 ;

爱德华·凯斯 .

中国专利 :CN101931395A ,2010-12-29

[3]

集成电路的时序分析方法及集成电路的时序分析装置 [P].

陈英杰 ;

余美俪 ;

王鼎雄 ;

罗幼岚 ;

高淑怡 .

中国专利 :CN105808806B ,2016-07-27

[4]

集成电路装置和制造集成电路装置的方法 [P].

陈志良 ;

吴国晖 ;

蔡庆威 ;

张尚文 ;

田丽钧 .

中国专利 :CN115394720A ,2022-11-25

[5]

制造集成电路装置的方法和集成电路装置 [P].

卓容奭 ;

康珉材 ;

李周利 .

中国专利 :CN108695255A ,2018-10-23

[6]

集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置 [P].

金范柱 .

中国专利 :CN104422878A ,2015-03-18

[7]

测试电路插入集成电路的方法、装置和集成电路 [P].

方志强 ;

汪瑶 ;

张伦 ;

耿锐 .

中国专利 :CN120409384A ,2025-08-01

[8]

操作集成电路的方法和集成电路 [P].

吕士濂 .

中国专利 :CN113571107A ,2021-10-29

[9]

操作集成电路的方法和集成电路 [P].

吕士濂 .

中国专利 :CN113571107B ,2025-03-21

[10]

集成电路和用于集成电路的方法 [P].

布莱恩·J·卡姆普贝尔 ;

温森特·R·万卡纳尔 ;

格莱格里·S·斯柯特 ;

斯里巴兰·森萨纳姆 ;

丹尼尔·C·穆雷 .

中国专利 :CN102157188B ,2011-08-17

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