集成电路分析方法和装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311320393.X
申请日
2023-10-12
公开(公告)号
CN117077602B
公开(公告)日
2024-02-09
发明(设计)人
丁柯 张崇茜 陈瑞
申请人
北京芯愿景软件技术股份有限公司
申请人地址
100095 北京市海淀区高里掌路1号院2号楼芯愿景
IPC主分类号
G06F30/367
IPC分类号
代理机构
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258
代理人
赵秀芹
法律状态
授权
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[41]
集成电路和方法 [P]. 
T·茹阿诺 .
:CN120389611A ,2025-07-29
[42]
分析物检测方法和分析物检测集成电路 [P]. 
菲利浦·弗雷德里 ;
弗里斯科·耶德玛 ;
戴维·斯滕温克尔 ;
希尔柯·瑟伊 .
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[43]
集成电路器件、集成电路布局和生成集成电路布局的方法 [P]. 
方上维 ;
曾健庭 ;
郑仪侃 ;
林彦宏 ;
黄圣丰 .
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[44]
集成电路器件、集成电路布局和修改集成电路布局的方法 [P]. 
陈瑞麟 ;
张峰铭 ;
王屏薇 ;
吴于贝 ;
王志庆 .
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[45]
集成电路封装方法和集成电路封装件 [P]. 
张一弛 .
中国专利 :CN115565897A ,2023-01-03
[46]
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林孟汉 ;
谢智仁 .
中国专利 :CN112599530A ,2021-04-02
[47]
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E·奥夫雷 ;
T·梅里斯 ;
P·西里托-奥利维耶 .
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[48]
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H·S·帕尔 ;
E·艾舒恩 ;
S·S·艾博特 .
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[49]
集成电路和集成电路解方程的方法 [P]. 
张玉伦 .
中国专利 :CN101571795B ,2009-11-04
[50]
用于测试和分析集成电路的装置、系统和方法 [P]. 
安东尼·S·J·格默 .
中国专利 :CN101248362A ,2008-08-20