用于测试和分析集成电路的装置、系统和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200680018641.3

申请日：

2006-05-12

公开(公告)号：

CN101248362A

公开(公告)日：

2008-08-20

发明(设计)人：

安东尼·S·J·格默

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

朱进桂

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-10-15	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-08-20	公开	公开
2011-03-23	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101077488554 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2006800186413 公开日:20080820

共 50 条

[1]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[2]

测试或分析集成电路的方法和系统 [P].

C·B·麦克布莱德 ;

K·H·哈塞尔霍斯特 ;

L·E·格罗斯巴赫 ;

Q·G·施麦尔 .

中国专利 :CN1979206A ,2007-06-13

[3]

用于测试集成电路的系统和方法 [P].

W.巴卡尔斯基 ;

N.伊尔科夫 .

中国专利 :CN103424686A ,2013-12-04

[4]

用于分析集成电路的方法、设备和集成电路 [P].

马特吉·戈森斯 ;

弗兰克·萨卡里亚斯 .

中国专利 :CN101213465A ,2008-07-02

[5]

集成电路和用于测试该集成电路的方法 [P].

C·H·范贝尔克尔 ;

A·M·G·佩特尔斯 .

中国专利 :CN100477522C ,2004-07-21

[6]

用于测试集成电路的方法和装置 [P].

O·皮雷恩 .

中国专利 :CN1132554A ,1996-10-02

[7]

用于测试集成电路的方法和装置 [P].

吴嘉洛 ;

M·雅各布斯 ;

V·C·K·吴 ;

M·C·刘 .

中国专利 :CN110118923A ,2019-08-13

[8]

集成电路分析系统和方法 [P].

维亚切斯拉夫·L·扎瓦迪卡 ;

爱德华·凯斯 .

中国专利 :CN101931395A ,2010-12-29

[9]

用于测试集成电路的方法和装置 [P].

I·布尔斯坦 .

中国专利 :CN102818983A ,2012-12-12

[10]

集成电路以及用于生产集成电路的系统和方法 [P].

D·E·尼科诺夫 ;

R·L·赞克曼 ;

R·金 ;

J·潘 .

中国专利 :CN104756255A ,2015-07-01

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