集成电路分析系统和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010203156.1

申请日：

2010-06-18

公开(公告)号：

CN101931395A

公开(公告)日：

2010-12-29

发明(设计)人：

维亚切斯拉夫·L·扎瓦迪卡爱德华·凯斯

申请人：

申请人地址：

加拿大安大略省

IPC主分类号：

H03K1920

IPC分类号：

代理机构：

北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290

代理人：

褚海英;武玉琴

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-06-25	授权	授权
2016-03-23	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101729859469 IPC(主分类):G06F 17/50 专利号:ZL2010102031561 变更事项:专利权人变更前:英赛特半导体有限公司变更后:泰科英赛科技有限公司变更事项:地址变更前:加拿大安大略省变更后:加拿大安大略省
2010-12-29	公开	公开
2011-02-16	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101037124856 IPC(主分类):H03K 19/20 专利申请号:2010102031561 申请日:20100618

共 50 条

[1]

用于分析集成电路的方法、设备和集成电路 [P].

马特吉·戈森斯 ;

弗兰克·萨卡里亚斯 .

中国专利 :CN101213465A ,2008-07-02

[2]

集成电路分析方法和装置 [P].

丁柯 ;

张崇茜 ;

陈瑞 .

中国专利 :CN117077602B ,2024-02-09

[3]

集成电路系统和集成电路 [P].

川上健太郎 .

中国专利 :CN107193765B ,2017-09-22

[4]

集成电路和集成电路系统 [P].

T·奥达斯 ;

A·萨拉菲亚诺斯 ;

F·马里内特 ;

S·谢奈斯 .

中国专利 :CN207182284U ,2018-04-03

[5]

集成电路和集成电路系统 [P].

P·弗纳拉 ;

C·里韦罗 .

中国专利 :CN207217500U ,2018-04-10

[6]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[7]

集成电路工艺分析系统及分析方法 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN110968984B ,2020-04-07

[8]

测试或分析集成电路的方法和系统 [P].

C·B·麦克布莱德 ;

K·H·哈塞尔霍斯特 ;

L·E·格罗斯巴赫 ;

Q·G·施麦尔 .

中国专利 :CN1979206A ,2007-06-13

[9]

集成电路及形成集成电路的系统和方法 [P].

张丰愿 ;

张钧皓 ;

陈胜雄 ;

黄博祥 ;

袁立本 .

中国专利 :CN107391782A ,2017-11-24

[10]

集成电路、用于形成集成电路的系统和方法 [P].

萧锦涛 ;

陈志良 ;

杨超源 ;

庄惠中 ;

曾健庭 ;

邱奕勋 .

中国专利 :CN108133933B ,2018-06-08

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