集成电路工艺分析系统及分析方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811141990.5
申请日
2018-09-28
公开(公告)号
CN110968984B
公开(公告)日
2020-04-07
发明(设计)人
不公告发明人
申请人
申请人地址
230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号
G06F30398
IPC分类号
代理机构
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
智云
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路分析系统和方法 [P]. 
维亚切斯拉夫·L·扎瓦迪卡 ;
爱德华·凯斯 .
中国专利 :CN101931395A ,2010-12-29
[2]
集成电路的时序分析方法及集成电路的时序分析装置 [P]. 
陈英杰 ;
余美俪 ;
王鼎雄 ;
罗幼岚 ;
高淑怡 .
中国专利 :CN105808806B ,2016-07-27
[3]
集成电路智能测试分析方法及系统 [P]. 
张晖 .
中国专利 :CN119001400A ,2024-11-22
[4]
集成电路智能测试分析系统及方法 [P]. 
叶柯君 .
中国专利 :CN120009700A ,2025-05-16
[5]
集成电路的失效分析方法及系统 [P]. 
金志明 .
中国专利 :CN109725246B ,2019-05-07
[6]
集成电路接合工艺及集成电路结构 [P]. 
杨威源 .
中国专利 :CN117219526B ,2024-02-09
[7]
衬底噪声分析方法、分析设备及半导体集成电路 [P]. 
平野将三 ;
岛崎健二 ;
辻川洋行 .
中国专利 :CN1591431A ,2005-03-09
[8]
集成电路测试信息整合分析系统及方法 [P]. 
庄伟龙 .
中国专利 :CN121049697A ,2025-12-02
[9]
集成电路工艺与半导体工艺的数据分析方法 [P]. 
张国海 ;
李启明 ;
杜路营 ;
郭瑞俊 .
中国专利 :CN100495389C ,2007-12-26
[10]
集成电路分析方法和装置 [P]. 
丁柯 ;
张崇茜 ;
陈瑞 .
中国专利 :CN117077602B ,2024-02-09