集成电路智能测试分析方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411108954.4

申请日：

2024-08-13

公开(公告)号：

CN119001400A

公开(公告)日：

2024-11-22

发明(设计)人：

张晖

申请人：

联鼎视讯科技（深圳）有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区新安街道海滨社区甲岸南路22号易尚创意科技大厦2201

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R29/08 G01R23/16

代理机构：

深圳市联江知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44939

代理人：

田苗

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240813
2024-11-22	公开	公开

共 50 条

[1]

集成电路智能测试分析系统及方法 [P].

叶柯君 .

中国专利 :CN120009700A ,2025-05-16

[2]

集成电路全生态链智能测试分析方法 [P].

罗斌 ;

张志勇 ;

凌俭波 ;

顾辉 ;

牛勇 ;

蔡漪文 .

中国专利 :CN109406984B ,2019-03-01

[3]

集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P].

徐正元 .

中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02

[4]

集成电路测试信息整合分析系统及方法 [P].

庄伟龙 .

中国专利 :CN121049697A ,2025-12-02

[5]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[6]

集成电路测试系统及测试方法 [P].

顾良波 ;

张志勇 ;

余琨 ;

王锦 ;

叶建明 ;

郝丹丹 .

中国专利 :CN103777131A ,2014-05-07

[7]

集成电路测试系统及测试方法 [P].

朱本强 .

中国专利 :CN110780184A ,2020-02-11

[8]

集成电路测试方法及系统 [P].

郭虎 ;

李建伟 ;

王才宝 .

中国专利 :CN118884191A ,2024-11-01

[9]

集成电路测试方法及系统 [P].

郭虎 ;

李建伟 ;

王才宝 .

中国专利 :CN118884191B ,2024-11-26

[10]

集成电路测试系统及方法 [P].

梁文山 ;

苏哲毅 .

中国专利 :CN101131409A ,2008-02-27

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