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一种用于内存条的拔插测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201820107260.2
申请日
:
2018-01-23
公开(公告)号
:
CN207817680U
公开(公告)日
:
2018-09-04
发明(设计)人
:
黄佳辉
申请人
:
申请人地址
:
523631 广东省东莞市樟木头镇石新社区飞云路二街1号一楼A
IPC主分类号
:
G06F1122
IPC分类号
:
G06F118
代理机构
:
重庆创新专利商标代理有限公司 50125
代理人
:
宫兆斌
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-09-04
授权
授权
2020-01-10
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20180123 授权公告日:20180904 终止日期:20190123
共 50 条
[1]
一种内存条拔插寿命测试装置
[P].
柳鹏飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市融创通达科技有限公司
深圳市融创通达科技有限公司
柳鹏飞
;
李庆湧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市融创通达科技有限公司
深圳市融创通达科技有限公司
李庆湧
;
胡馨予
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市融创通达科技有限公司
深圳市融创通达科技有限公司
胡馨予
.
中国专利
:CN222690151U
,2025-03-28
[2]
一种内存条生产用拔插测试装置
[P].
林文好
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市优盛博纳科技有限公司
深圳市优盛博纳科技有限公司
林文好
;
张益军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳市优盛博纳科技有限公司
深圳市优盛博纳科技有限公司
张益军
.
中国专利
:CN120523663A
,2025-08-22
[3]
内存条测试装置
[P].
郭志刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭志刚
.
中国专利
:CN201654073U
,2010-11-24
[4]
内存条测试装置
[P].
顾焕军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
顾焕军
.
中国专利
:CN201069658Y
,2008-06-04
[5]
一种用于内存条的拔插测试设备
[P].
黄佳辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄佳辉
.
中国专利
:CN207799665U
,2018-08-31
[6]
一种内存条测试装置
[P].
谭必华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞忆云信息系统有限公司
东莞忆云信息系统有限公司
谭必华
;
汤坤远
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞忆云信息系统有限公司
东莞忆云信息系统有限公司
汤坤远
;
李剑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞忆云信息系统有限公司
东莞忆云信息系统有限公司
李剑
;
谭艾英
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞忆云信息系统有限公司
东莞忆云信息系统有限公司
谭艾英
;
李金州
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞忆云信息系统有限公司
东莞忆云信息系统有限公司
李金州
.
中国专利
:CN221486147U
,2024-08-06
[7]
一种用于内存条的拔插测试治具
[P].
黄佳辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄佳辉
.
中国专利
:CN207817681U
,2018-09-04
[8]
内存条芯片测试装置
[P].
谢森华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢森华
.
中国专利
:CN207781209U
,2018-08-28
[9]
内存条测试装置
[P].
郭志刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭志刚
.
中国专利
:CN101833998B
,2010-09-15
[10]
内存条测试装置
[P].
顾焕军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
顾焕军
.
中国专利
:CN101082635A
,2007-12-05
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