一种芯片测试用分选装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921213205.2

申请日：

2019-07-30

公开(公告)号：

CN210546422U

公开(公告)日：

2020-05-19

发明(设计)人：

王战朋王冲

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区唯新路59号

IPC主分类号：

B07C502

IPC分类号：

B07C538 B07C500 G01B1102

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-19	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试用分选装置 [P].

金正俊 ;

徐爱云 .

中国专利 :CN222132670U ,2024-12-10

[2]

一种芯片测试分选装置 [P].

陈钢全 ;

朱海马 ;

王成欣 ;

尚利 .

中国专利 :CN222710248U ,2025-04-04

[3]

一种电阻芯片测试用分选设备 [P].

何庆通 .

中国专利 :CN208082914U ,2018-11-13

[4]

一种芯片测试分选设备 [P].

邹家宽 ;

薛锋伟 ;

史赛 .

中国专利 :CN218049111U ,2022-12-16

[5]

一种芯片多功能测试分选装置 [P].

吴明涛 ;

王战朋 ;

刘振 .

中国专利 :CN210676035U ,2020-06-05

[6]

一种芯片测试分选装置 [P].

杨荣辉 ;

陆小艺 .

中国专利 :CN222220377U ,2024-12-24

[7]

一种芯片测试分选装置 [P].

徐辉 ;

廖志国 ;

李斌 .

中国专利 :CN220658415U ,2024-03-26

[8]

一种芯片测试分选装置 [P].

李维繁星 ;

张春霞 .

中国专利 :CN221046696U ,2024-05-31

[9]

一种芯片测试分选装置 [P].

李双成 ;

张传益 ;

马海龙 ;

曾润达 ;

辜诗涛 .

中国专利 :CN216622588U ,2022-05-27

[10]

一种芯片测试分选装置 [P].

黎城镇 ;

王丽冬 .

中国专利 :CN220329326U ,2024-01-12

← 1 2 3 4 5 →