一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520709033.3

申请日：

2015-09-14

公开(公告)号：

CN205049602U

公开(公告)日：

2016-02-24

发明(设计)人：

穆海燕刘德先张兰昌

申请人：

申请人地址：

215021 江苏省苏州市工业园区苏虹中路255号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350

代理人：

汤东凤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-02-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种基于双面引脚阵列半导体芯片的测试治具 [P].

周惠春 ;

陈金荣 ;

戴云 .

中国专利 :CN205049698U ,2016-02-24

[2]

一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具 [P].

李欣 .

中国专利 :CN212723194U ,2021-03-16

[3]

一种用于双面引脚阵列半导体芯片的测试插座 [P].

陈金荣 ;

郭愿珍 ;

刘德先 .

中国专利 :CN204925180U ,2015-12-30

[4]

一种基于双面引脚阵列半导体芯片的测试治具 [P].

李越 .

中国专利 :CN212781082U ,2021-03-23

[5]

半导体芯片手动测试治具 [P].

陈金荣 .

中国专利 :CN301793643S ,2012-01-11

[6]

一种多用半导体芯片测试治具 [P].

李俊武 ;

周浪 ;

徐建国 ;

钟雯 ;

叶慎阳 ;

欧阳凡 ;

唐仁 ;

吴泽恩 ;

蔡燕 ;

黎定 .

中国专利 :CN223272556U ,2025-08-26

[7]

一种半导体芯片测试板卡 [P].

林河北 ;

梅小杰 ;

杨东霓 ;

杜永琴 ;

黄寅财 .

中国专利 :CN215449490U ,2022-01-07

[8]

一种芯片测试治具 [P].

李刚 .

中国专利 :CN214041653U ,2021-08-24

[9]

半导体测试治具 [P].

向彪 .

中国专利 :CN207232320U ,2018-04-13

[10]

一种半导体测试治具 [P].

梁宝文 .

中国专利 :CN216956243U ,2022-07-12

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