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一种半导体芯片测试板卡
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202022827929.5
申请日
:
2020-11-30
公开(公告)号
:
CN215449490U
公开(公告)日
:
2022-01-07
发明(设计)人
:
林河北
梅小杰
杨东霓
杜永琴
黄寅财
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市龙华区大浪街道浪口社区华昌路315号1层(华昌路工业区14栋1-3层,17栋1-3层)
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 44368
代理人
:
齐文剑
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-01-07
授权
授权
共 50 条
[1]
一种半导体芯片测试板卡
[P].
林河北
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林河北
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梅小杰
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梅小杰
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杨东霓
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杨东霓
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杜永琴
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杜永琴
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黄寅财
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黄寅财
.
中国专利
:CN112327142A
,2021-02-05
[2]
一种半导体芯片测试板卡
[P].
郭飞
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郭飞
;
陈宗廷
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陈宗廷
;
朱放中
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朱放中
.
中国专利
:CN216310200U
,2022-04-15
[3]
一种半导体芯片测试装置
[P].
梅小杰
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梅小杰
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林河北
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林河北
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杨东霓
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杨东霓
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杜永琴
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杜永琴
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沈元信
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沈元信
.
中国专利
:CN214953912U
,2021-11-30
[4]
一种半导体芯片测试装置
[P].
梅小杰
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梅小杰
;
林河北
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林河北
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杨东霓
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杨东霓
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杜永琴
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杜永琴
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沈元信
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沈元信
.
中国专利
:CN112327143A
,2021-02-05
[5]
一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具
[P].
穆海燕
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穆海燕
;
刘德先
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刘德先
;
张兰昌
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张兰昌
.
中国专利
:CN205049602U
,2016-02-24
[6]
半导体芯片的老化测试装置
[P].
罗跃浩
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罗跃浩
;
黄建军
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黄建军
;
胡海洋
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胡海洋
.
中国专利
:CN211043577U
,2020-07-17
[7]
一种半导体芯片测试系统
[P].
王丽国
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王丽国
;
冯龙
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冯龙
;
柴国占
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柴国占
.
中国专利
:CN113985245A
,2022-01-28
[8]
一种半导体芯片测试系统
[P].
王丽国
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王丽国
;
冯龙
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冯龙
;
柴国占
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柴国占
.
中国专利
:CN113820579B
,2021-12-21
[9]
一种半导体芯片测试座
[P].
郭飞
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郭飞
;
陈宗廷
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陈宗廷
;
朱放中
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朱放中
.
中国专利
:CN216310062U
,2022-04-15
[10]
一种半导体芯片测试座
[P].
罗一石
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罗一石
.
中国专利
:CN217034039U
,2022-07-22
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