一种半导体芯片测试板卡

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202022827929.5
申请日
2020-11-30
公开(公告)号
CN215449490U
公开(公告)日
2022-01-07
发明(设计)人
林河北 梅小杰 杨东霓 杜永琴 黄寅财
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华区大浪街道浪口社区华昌路315号1层(华昌路工业区14栋1-3层,17栋1-3层)
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 44368
代理人
齐文剑
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体芯片测试板卡 [P]. 
林河北 ;
梅小杰 ;
杨东霓 ;
杜永琴 ;
黄寅财 .
中国专利 :CN112327142A ,2021-02-05
[2]
一种半导体芯片测试板卡 [P]. 
郭飞 ;
陈宗廷 ;
朱放中 .
中国专利 :CN216310200U ,2022-04-15
[3]
一种半导体芯片测试装置 [P]. 
梅小杰 ;
林河北 ;
杨东霓 ;
杜永琴 ;
沈元信 .
中国专利 :CN214953912U ,2021-11-30
[4]
一种半导体芯片测试装置 [P]. 
梅小杰 ;
林河北 ;
杨东霓 ;
杜永琴 ;
沈元信 .
中国专利 :CN112327143A ,2021-02-05
[5]
一种双面引脚阵列半导体芯片测试治具 [P]. 
穆海燕 ;
刘德先 ;
张兰昌 .
中国专利 :CN205049602U ,2016-02-24
[6]
半导体芯片的老化测试装置 [P]. 
罗跃浩 ;
黄建军 ;
胡海洋 .
中国专利 :CN211043577U ,2020-07-17
[7]
一种半导体芯片测试系统 [P]. 
王丽国 ;
冯龙 ;
柴国占 .
中国专利 :CN113985245A ,2022-01-28
[8]
一种半导体芯片测试系统 [P]. 
王丽国 ;
冯龙 ;
柴国占 .
中国专利 :CN113820579B ,2021-12-21
[9]
一种半导体芯片测试座 [P]. 
郭飞 ;
陈宗廷 ;
朱放中 .
中国专利 :CN216310062U ,2022-04-15
[10]
一种半导体芯片测试座 [P]. 
罗一石 .
中国专利 :CN217034039U ,2022-07-22