共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种半导体芯片测试装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202011373396.6
申请日：
2020-11-30
公开(公告)号：
CN112327143A
公开(公告)日：
2021-02-05
发明(设计)人：
梅小杰
林河北
杨东霓
杜永琴
沈元信
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙华区大浪街道浪口社区华昌路315号1层（华昌路工业区14栋1-3层，17栋1-3层）
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 44368
代理人：
齐文剑
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-02-26 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20201130 |
| 2021-02-05 | 公开 | 公开 |