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一种半导体芯片测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111194220.9
申请日：
2021-10-13
公开(公告)号：
CN113985245A
公开(公告)日：
2022-01-28
发明(设计)人：
王丽国
冯龙
柴国占
申请人：
申请人地址：
215000 江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区金鸡湖大道88号人工智能产业园G1-402
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
深圳市宾亚知识产权代理有限公司 44459
代理人：
毋军
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-02-18 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211013 |
| 2022-01-28 | 公开 | 公开 |