一种半导体芯片测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111101374.9

申请日：

2021-09-18

公开(公告)号：

CN113820579B

公开(公告)日：

2021-12-21

发明(设计)人：

王丽国冯龙柴国占

申请人：

申请人地址：

215000 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道88号人工智能产业园G1-402

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R3128 G01N21956 G01N2101

代理机构：

北京沁优知识产权代理有限公司 11684

代理人：

金慧玲

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-21	公开	公开
2022-01-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20210918
2022-11-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体芯片测试系统 [P].

王丽国 ;

冯龙 ;

柴国占 .

中国专利 :CN113985245A ,2022-01-28

[2]

一种半导体芯片测试方法及测试系统 [P].

江清华 ;

李常源 ;

徐光耀 .

中国专利 :CN118501654A ,2024-08-16

[3]

一种半导体芯片测试系统 [P].

张华 ;

薛银飞 ;

唐安庆 .

中国专利 :CN220729615U ,2024-04-05

[4]

一种半导体芯片测试板卡 [P].

林河北 ;

梅小杰 ;

杨东霓 ;

杜永琴 ;

黄寅财 .

中国专利 :CN112327142A ,2021-02-05

[5]

半导体芯片测试系统和方法 [P].

牟赟 .

中国专利 :CN109827970B ,2019-05-31

[6]

一种半导体芯片测试板卡 [P].

郭飞 ;

陈宗廷 ;

朱放中 .

中国专利 :CN216310200U ,2022-04-15

[7]

一种半导体芯片测试板卡 [P].

林河北 ;

梅小杰 ;

杨东霓 ;

杜永琴 ;

黄寅财 .

中国专利 :CN215449490U ,2022-01-07

[8]

一种半导体芯片测试的反馈系统 [P].

贺伟龙 ;

谭秋阳 ;

杨书豪 ;

孙伟 ;

毛赛君 .

中国专利 :CN117783806A ,2024-03-29

[9]

一种半导体芯片终端测试系统 [P].

程西波 .

中国专利 :CN120490772A ,2025-08-15

[10]

半导体芯片分选测试系统 [P].

秦雪梅 ;

周鑫淼 ;

彭恩高 ;

高停 ;

沈亚男 .

中国专利 :CN116705653B ,2024-09-20

← 1 2 3 4 5 →