一种半导体芯片测试板卡

被引：0

申请号：

CN202122682876.7

申请日：

2021-11-04

公开(公告)号：

CN216310200U

公开(公告)日：

2022-04-15

发明(设计)人：

郭飞陈宗廷朱放中

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区新安街道海滨社区N23区海天路15-1号卓越宝中时代广场一期A栋1804

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-15	授权	授权

共 50 条

[1]

一种半导体芯片测试板卡 [P].

林河北 ;

梅小杰 ;

杨东霓 ;

杜永琴 ;

黄寅财 .

中国专利 :CN215449490U ,2022-01-07

[2]

一种半导体芯片测试板卡 [P].

林河北 ;

梅小杰 ;

杨东霓 ;

杜永琴 ;

黄寅财 .

中国专利 :CN112327142A ,2021-02-05

[3]

一种半导体芯片测试系统 [P].

王丽国 ;

冯龙 ;

柴国占 .

中国专利 :CN113985245A ,2022-01-28

[4]

一种半导体芯片测试系统 [P].

王丽国 ;

冯龙 ;

柴国占 .

中国专利 :CN113820579B ,2021-12-21

[5]

半导体芯片测试板 [P].

王刚 ;

殷伟理 .

中国专利 :CN203519027U ,2014-04-02

[6]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192B ,2024-10-29

[7]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192A ,2024-07-30

[8]

半导体测试板卡、半导体测试设备及测试系统 [P].

袁晓航 ;

杨钊辉 ;

吴炳龙 ;

胡刚 ;

胡松德 .

中国专利 :CN223022311U ,2025-06-24

[9]

一种半导体芯片的测试平台 [P].

黄卫东 ;

顾展华 ;

张建新 ;

黄允昌 ;

樊键雄 .

中国专利 :CN221224916U ,2024-06-25

[10]

一种半导体芯片的测试电路结构以及半导体芯片 [P].

王贺祥 ;

陈冠中 ;

林今焕 .

中国专利 :CN221261178U ,2024-07-02

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