一种相位延迟测量用样品

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921444292.2

申请日：

2019-09-02

公开(公告)号：

CN210719635U

公开(公告)日：

2020-06-09

发明(设计)人：

刘世杰王微微周游潘靖宇

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区清河路390号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317

代理人：

张宁展

法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-09	授权	授权

共 50 条

[41]

一种复合消色差波片相位延迟量测量装置和方法 [P].

李伟奇 ;

吴警政 ;

张传维 ;

刘亮 ;

郭春付 ;

杨康 .

中国专利 :CN113654996A ,2021-11-16

[42]

一种波片相位延迟的精密测量系统及其实现方法 [P].

侯俊峰 .

中国专利 :CN102589850A ,2012-07-18

[43]

一种楔形双折射器件相位延迟量测量光路及测量方法 [P].

陈强华 ;

关裕 ;

邵多 ;

刘福铭 ;

吕洪波 ;

孙启国 ;

司丽娜 ;

何广平 .

中国专利 :CN115541203A ,2022-12-30

[44]

一种楔形双折射器件相位延迟量测量光路及测量方法 [P].

陈强华 ;

关裕 ;

邵多 ;

刘福铭 ;

吕洪波 ;

孙启国 ;

司丽娜 ;

何广平 .

中国专利 :CN115541203B ,2025-08-08

[45]

一种光学延迟测量装置 [P].

陶世兴 ;

赵新才 ;

杨丽玲 ;

温伟峰 ;

李建中 ;

肖正飞 ;

胡腾 ;

阳庆国 ;

刘宁文 ;

彭其先 ;

李泽仁 .

中国专利 :CN203587229U ,2014-05-07

[46]

一种微纳尺寸波片相位延迟量的测量装置及测量方法 [P].

李思奇 ;

赵家祺 ;

王国玺 ;

张文富 .

中国专利 :CN120275010A ,2025-07-08

[47]

一种微纳尺寸波片相位延迟量的测量装置及测量方法 [P].

李思奇 ;

赵家祺 ;

王国玺 ;

张文富 .

中国专利 :CN120275010B ,2025-09-09

[48]

波片绝对相位延迟的测量方法、装置、设备及存储介质 [P].

罗国语 ;

熊毅 ;

徐建 ;

赵云 .

中国专利 :CN121163842A ,2025-12-19

[49]

用于测量相板相位延迟量的测试片及测试装置 [P].

周兆伟 .

中国专利 :CN217845591U ,2022-11-18

[50]

一种相位测量装置、电子设备及相位测量系统 [P].

刘梓轩 ;

邱文才 ;

张辉 .

中国专利 :CN207764300U ,2018-08-24

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