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晶片检查

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010984361.X
申请日：
2012-07-10
公开(公告)号：
CN112113977A
公开(公告)日：
2020-12-22
发明(设计)人：
阿纳托利·罗曼诺夫斯基 伊万·马列夫 丹尼尔·卡瓦尔德杰夫 尤里·尤迪特斯凯 迪尔克·沃尔 史蒂文·比耶拉卡
申请人：
申请人地址：
美国加利福尼亚州
IPC主分类号：
G01N2195
IPC分类号：
H01L2166
代理机构：
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287
代理人：
刘丽楠
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-01-08 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/95 申请日:20120710
2020-12-22 公开 公开
共 50 条
[1]
晶片检查 [P]. 
阿纳托利·罗曼诺夫斯基 ;
伊万·马列夫 ;
丹尼尔·卡瓦尔德杰夫 ;
尤里·尤迪特斯凯 ;
迪尔克·沃尔 ;
史蒂文·比耶拉卡 .
中国专利 :CN115343310A ,2022-11-15
[2]
晶片检查 [P]. 
阿纳托利·罗曼诺夫斯基 ;
伊万·马列夫 ;
丹尼尔·卡瓦尔德杰夫 ;
尤里·尤迪特斯凯 ;
迪尔克·沃尔 ;
史蒂文·比耶拉卡 .
美国专利 :CN115343310B ,2025-05-13
[3]
晶片检查 [P]. 
阿纳托利·罗曼诺夫斯基 ;
伊万·马列夫 ;
丹尼尔·卡瓦尔德杰夫 ;
尤里·尤迪特斯凯 ;
迪尔克·沃尔 ;
史蒂文·比耶拉卡 .
美国专利 :CN120352444A ,2025-07-22
[4]
晶片检查 [P]. 
阿纳托利·罗曼诺夫斯基 ;
伊万·马列夫 ;
丹尼尔·卡瓦尔德杰夫 ;
尤里·尤迪特斯凯 ;
迪尔克·沃尔 ;
史蒂文·比耶拉卡 .
中国专利 :CN107064168A ,2017-08-18
[5]
晶片检查 [P]. 
阿纳托利·罗曼诺夫斯基 ;
伊万·马列夫 ;
丹尼尔·卡瓦尔德杰夫 ;
尤里·尤迪特斯凯 ;
迪尔克·沃尔 ;
史蒂文·比耶拉卡 .
中国专利 :CN107064167A ,2017-08-18
[6]
晶片检查装置和晶片检查方法 [P]. 
土居昭 ;
佐佐木实 ;
长谷川正树 ;
小川博纪 ;
尾方智彦 ;
冈田祐子 .
中国专利 :CN112119297A ,2020-12-22
[7]
晶片检查装置 [P]. 
山田浩史 .
中国专利 :CN105388410B ,2016-03-09
[8]
晶片检查 [P]. 
阿纳托利·罗曼诺夫斯基 ;
伊万·马列夫 ;
丹尼尔·卡瓦尔德杰夫 ;
尤里·尤迪特斯凯 ;
迪尔克·沃尔 ;
史蒂文·比耶拉卡 .
中国专利 :CN103748454A ,2014-04-23
[9]
晶片检查方法和晶片检查装置 [P]. 
伊藤优作 ;
矢野紘英 ;
谷口智之 .
中国专利 :CN105489523A ,2016-04-13
[10]
晶片检查方法和晶片检查装置 [P]. 
山田浩史 .
中国专利 :CN108140590B ,2018-06-08
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