晶片检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510514833.4

申请日：

2015-08-20

公开(公告)号：

CN105388410B

公开(公告)日：

2016-03-09

发明(设计)人：

山田浩史

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R1073

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

龙淳;邸万杰

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-03-09	公开	公开
2016-04-06	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101653688895 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2015105148334 申请日:20150820
2018-04-17	授权	授权

共 50 条

[1]

晶片检查用接口和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN104380449A ,2015-02-25

[2]

晶片检查装置和晶片检查方法 [P].

土居昭 ;

佐佐木实 ;

长谷川正树 ;

小川博纪 ;

尾方智彦 ;

冈田祐子 .

中国专利 :CN112119297A ,2020-12-22

[3]

晶片检查装置和晶片检查方法 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN108140591B ,2018-06-08

[4]

晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN103308839A ,2013-09-18

[5]

晶片检查用接口和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN103308735A ,2013-09-18

[6]

晶片检查用接口和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN102401874B ,2012-04-04

[7]

晶片检查用接口装置和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN103308845B ,2013-09-18

[8]

晶片检查用接口和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN103163334A ,2013-06-19

[9]

晶片检查 [P].

阿纳托利·罗曼诺夫斯基 ;

伊万·马列夫 ;

丹尼尔·卡瓦尔德杰夫 ;

尤里·尤迪特斯凯 ;

迪尔克·沃尔 ;

史蒂文·比耶拉卡 .

中国专利 :CN115343310A ,2022-11-15

[10]

晶片检查 [P].

阿纳托利·罗曼诺夫斯基 ;

伊万·马列夫 ;

丹尼尔·卡瓦尔德杰夫 ;

尤里·尤迪特斯凯 ;

迪尔克·沃尔 ;

史蒂文·比耶拉卡 .

美国专利 :CN115343310B ,2025-05-13

← 1 2 3 4 5 →