晶片检查装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310081653.2

申请日：

2013-03-14

公开(公告)号：

CN103308839A

公开(公告)日：

2013-09-18

发明(设计)人：

山田浩史

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

龙淳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-09-18	公开	公开
2016-01-06	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101726268857 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2013100816532 申请公布日:20130918
2013-10-23	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101531536042 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2013100816532 申请日:20130314

共 50 条

[1]

晶片检查用接口和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN103308735A ,2013-09-18

[2]

晶片检查用接口装置和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN103308845B ,2013-09-18

[3]

晶片检查用接口和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN104380449A ,2015-02-25

[4]

晶片检查装置和晶片检查方法 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN108140591B ,2018-06-08

[5]

晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN105388410B ,2016-03-09

[6]

晶片检查用接口和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN102401874B ,2012-04-04

[7]

晶片检查用接口和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN103163334A ,2013-06-19

[8]

晶片安装方法和晶片检查装置 [P].

山田浩史 .

中国专利 :CN104756241B ,2015-07-01

[9]

晶片检查装置和晶片检查方法 [P].

土居昭 ;

佐佐木实 ;

长谷川正树 ;

小川博纪 ;

尾方智彦 ;

冈田祐子 .

中国专利 :CN112119297A ,2020-12-22

[10]

晶片检查方法和晶片检查装置 [P].

伊藤优作 ;

矢野紘英 ;

谷口智之 .

中国专利 :CN105489523A ,2016-04-13

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