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一种CPU半导体导电性能检测系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110466849.8
申请日
:
2021-04-29
公开(公告)号
:
CN113190390A
公开(公告)日
:
2021-07-30
发明(设计)人
:
孙淑波
申请人
:
申请人地址
:
518107 广东省深圳市光明新区公明镇下村第三工业区1栋501
IPC主分类号
:
G06F1122
IPC分类号
:
G06F1126
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-30
公开
公开
2021-08-17
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20210429
共 50 条
[1]
一种半导体导电性能测试系统
[P].
楼天涯
论文数:
0
引用数:
0
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0
楼天涯
.
中国专利
:CN110275100A
,2019-09-24
[2]
一种检测半导体导电性能的设备
[P].
张海朋
论文数:
0
引用数:
0
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0
张海朋
.
中国专利
:CN110665831B
,2020-01-10
[3]
一种检测半导体导电性能的设备
[P].
邓胜万
论文数:
0
引用数:
0
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0
邓胜万
.
中国专利
:CN111474459A
,2020-07-31
[4]
半导体导电性能在线测试输送机构
[P].
庄旭
论文数:
0
引用数:
0
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0
庄旭
;
董春
论文数:
0
引用数:
0
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0
董春
.
中国专利
:CN206203344U
,2017-05-31
[5]
一种电子配件导电性能检测系统
[P].
陈小雨
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈小雨
;
孙立峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
孙立峰
.
中国专利
:CN111842223A
,2020-10-30
[6]
一种半导体导电性检测用辅助装置
[P].
张加力
论文数:
0
引用数:
0
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0
张加力
;
许宾宾
论文数:
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引用数:
0
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0
许宾宾
;
张岩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张岩
.
中国专利
:CN218213109U
,2023-01-03
[7]
一种半导体导电性检测用辅助装置
[P].
何文峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何文峰
.
中国专利
:CN209728005U
,2019-12-03
[8]
一种石墨烯电池导电性能检测系统
[P].
潘丽萍
论文数:
0
引用数:
0
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0
潘丽萍
.
中国专利
:CN114273265A
,2022-04-05
[9]
半导体测试电路及被测试件导电性能的检测方法
[P].
徐孝景
论文数:
0
引用数:
0
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徐孝景
;
宋永梁
论文数:
0
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0
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宋永梁
;
吕勇
论文数:
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0
吕勇
.
中国专利
:CN105445636A
,2016-03-30
[10]
一种半导体电性能参数检测系统
[P].
杨良春
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
安徽信诺达微电子有限公司
安徽信诺达微电子有限公司
杨良春
;
赵永峰
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
安徽信诺达微电子有限公司
安徽信诺达微电子有限公司
赵永峰
.
中国专利
:CN118534281A
,2024-08-23
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