光学模组像素缺陷检测方法、装置及设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810553658.3

申请日：

2018-05-31

公开(公告)号：

CN108683907A

公开(公告)日：

2018-10-19

发明(设计)人：

韩欣欣赵志勇董南京孙德波

申请人：

申请人地址：

261031 山东省潍坊市潍坊高新技术产业开发区东方路268号

IPC主分类号：

H04N1700

IPC分类号：

代理机构：

北京太合九思知识产权代理有限公司 11610

代理人：

刘戈

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-09	授权	授权
2022-12-02	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):H04N 17/00 登记生效日:20221122 变更事项:专利权人变更前权利人:歌尔股份有限公司变更后权利人:歌尔光学科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:261031 山东省潍坊市潍坊高新技术产业开发区东方路268号变更后权利人:261031 山东省潍坊市高新区清池街道永春社区惠贤路3999号歌尔光电产业园三期1号厂房
2018-10-19	公开	公开
2018-11-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04N 17/00 申请日:20180531

共 50 条

[1]

VR光学模组画面缺陷检测方法及装置 [P].

季振强 .

中国专利 :CN111638227A ,2020-09-08

[2]

应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置 [P].

董会 .

中国专利 :CN109827759B ,2019-05-31

[3]

光学模组缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

张保昌 .

中国专利 :CN120721358A ,2025-09-30

[4]

光学缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

李东红 ;

蒋健君 .

中国专利 :CN119600252A ,2025-03-11

[5]

像素缺陷检测方法和装置 [P].

刘将 ;

魏朝刚 .

中国专利 :CN104732900A ,2015-06-24

[6]

像素缺陷检测和校正设备以及像素缺陷检测和校正方法 [P].

米田丰 ;

小矶学 .

中国专利 :CN1732693A ,2006-02-08

[7]

显示模组的缺陷检测方法及设备 [P].

刘文波 ;

王文飞 ;

王俊 .

中国专利 :CN113466292A ,2021-10-01

[8]

光学薄膜检测装置及缺陷检测方法 [P].

黄俊杰 ;

陈韦廷 ;

康嘉滨 .

中国专利 :CN105334217A ,2016-02-17

[9]

缺陷检测方法及缺陷检测设备 [P].

习征东 ;

李圭铉 ;

刘超强 ;

王建宏 ;

王金顺 .

中国专利 :CN108387587A ,2018-08-10

[10]

缺陷检测方法及缺陷检测设备 [P].

朱青春 ;

程甲一 ;

汤深富 ;

白绳武 .

中国专利 :CN117388179A ,2024-01-12

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