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评估器件热载流子效应的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010174560.4
申请日
:
2020-03-13
公开(公告)号
:
CN113394124A
公开(公告)日
:
2021-09-14
发明(设计)人
:
许杞安
申请人
:
申请人地址
:
230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
G01R3126
代理机构
:
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
:
史治法
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-09-14
公开
公开
2021-10-01
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20200313
共 50 条
[1]
检测半导体器件热载流子效应的方法
[P].
郭强
论文数:
0
引用数:
0
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0
郭强
;
简维廷
论文数:
0
引用数:
0
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0
简维廷
;
黄宏嘉
论文数:
0
引用数:
0
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0
黄宏嘉
.
中国专利
:CN101587162A
,2009-11-25
[2]
热载流子效应退化性能的评估方法
[P].
胡健
论文数:
0
引用数:
0
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0
胡健
;
吕康
论文数:
0
引用数:
0
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0
吕康
;
熊阳
论文数:
0
引用数:
0
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0
熊阳
.
中国专利
:CN114720831A
,2022-07-08
[3]
改善NMOSFET热载流子效应的方法及NMOSFET器件
[P].
陆逸枫
论文数:
0
引用数:
0
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0
陆逸枫
;
潘宗延
论文数:
0
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0
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0
潘宗延
;
陈明志
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈明志
.
中国专利
:CN112038404A
,2020-12-04
[4]
28HV MV器件热载流子效应的优化方法
[P].
杨振兴
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨振兴
;
田志
论文数:
0
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0
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0
田志
;
梁启超
论文数:
0
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0
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0
梁启超
.
中国专利
:CN115020234A
,2022-09-06
[5]
一种改善IO器件热载流子效应的方法
[P].
陆逸枫
论文数:
0
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0
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0
陆逸枫
;
张志诚
论文数:
0
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0
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0
张志诚
;
陈明志
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈明志
.
中国专利
:CN111653485A
,2020-09-11
[6]
改善NMOS热载流子效应的方法
[P].
孙德明
论文数:
0
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0
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0
孙德明
.
中国专利
:CN106373889B
,2017-02-01
[7]
一种LDMOS器件热载流子注入效应的测试方法
[P].
杨涛
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨涛
;
王少荣
论文数:
0
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0
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0
王少荣
.
中国专利
:CN103852700A
,2014-06-11
[8]
一种减小热载流子效应的横向高压器件
[P].
乔明
论文数:
0
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0
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0
乔明
;
周锌
论文数:
0
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0
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0
周锌
;
祁娇娇
论文数:
0
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0
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0
祁娇娇
;
张波
论文数:
0
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0
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0
张波
.
中国专利
:CN104600118A
,2015-05-06
[9]
改善热载流子效应的电路结构
[P].
张涛
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
华大半导体(成都)有限公司
华大半导体(成都)有限公司
张涛
.
中国专利
:CN119690198A
,2025-03-25
[10]
一种FDSOI器件热载流子效应与单粒子效应的耦合仿真方法
[P].
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
刘红侠
;
严展鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
严展鹏
;
论文数:
引用数:
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机构:
王树龙
;
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
陈树鹏
;
刘昌
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
刘昌
;
赵军伟
论文数:
0
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0
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0
机构:
西安电子科技大学
西安电子科技大学
赵军伟
.
中国专利
:CN120611578A
,2025-09-09
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