实时测量表面形貌的正弦相位调制干涉仪

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200710037262.5
申请日
2007-02-07
公开(公告)号
CN100547344C
公开(公告)日
2007-09-12
发明(设计)人
何国田 王向朝
申请人
申请人地址
201800上海市800-211邮政信箱
IPC主分类号
G01B902
IPC分类号
G01B1124
代理机构
上海新天专利代理有限公司
代理人
张泽纯
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
实时测量表面形貌的正弦相位调制干涉装置 [P]. 
何国田 ;
王向朝 .
中国专利 :CN201003947Y ,2008-01-09
[2]
半导体激光正弦相位调制干涉仪调制深度的测量方法 [P]. 
王渤帆 ;
李中梁 ;
王向朝 .
中国专利 :CN102288387B ,2011-12-21
[3]
双光源正弦相位调制位移测量干涉仪 [P]. 
王渤帆 ;
李中梁 ;
王向朝 .
中国专利 :CN101738160A ,2010-06-16
[4]
双正弦相位调制实时干涉测距仪 [P]. 
李代林 ;
王向朝 .
中国专利 :CN1563890A ,2005-01-12
[5]
提高半导体激光正弦相位调制干涉仪振动测量精度的方法 [P]. 
李中梁 ;
王向朝 ;
王渤帆 .
中国专利 :CN102169012B ,2011-08-31
[6]
测量透明平板表面形貌的相位共轭干涉仪 [P]. 
钱锋 ;
王向朝 ;
王学锋 .
中国专利 :CN1147703C ,2002-11-13
[7]
一种正弦相位调制干涉仪的相位调制深度控制方法及系统 [P]. 
吕明俊 ;
张烈山 ;
徐欢 ;
邢兆强 ;
汪晗 ;
姚聪 ;
杨梁 .
中国专利 :CN119197303A ,2024-12-27
[8]
正弦相位调制干涉仪PGC解调实时归一化修正装置及方法 [P]. 
严利平 ;
张世华 ;
陈本永 .
中国专利 :CN107843189A ,2018-03-27
[9]
正弦相位调制干涉仪PGC解调方法、系统、装置及存储介质 [P]. 
张烈山 ;
邓惠铭 ;
肖武 ;
方文俊 .
中国专利 :CN116538909B ,2025-12-30
[10]
正弦相位调制型激光自混合干涉仪及其测量方法 [P]. 
王鸣 ;
夏巍 ;
刘强 ;
李春成 ;
郝辉 ;
郭冬梅 .
中国专利 :CN103528511A ,2014-01-22