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防止浅层离子注入工艺过程中离子析出的方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201610828340.2
申请日
:
2016-09-18
公开(公告)号
:
CN106252215A
公开(公告)日
:
2016-12-21
发明(设计)人
:
周健刚
倪棋梁
龙吟
顾晓芳
申请人
:
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号
IPC主分类号
:
H01L21266
IPC分类号
:
H01L21311
代理机构
:
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237
代理人
:
智云
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2017-01-18
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101697765767 IPC(主分类):H01L 21/266 专利申请号:2016108283402 申请日:20160918
2016-12-21
公开
公开
共 50 条
[1]
离子注入过程中的温度监控方法
[P].
李法涛
论文数:
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李法涛
;
阳厚国
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阳厚国
.
中国专利
:CN104851819B
,2015-08-19
[2]
离子注入工艺的监控方法
[P].
不公告发明人
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0
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不公告发明人
.
中国专利
:CN108109933B
,2018-06-01
[3]
一种离子注入工艺中防止栅极损坏的方法
[P].
张轲
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张轲
;
潘贤俊
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潘贤俊
;
车永强
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车永强
.
中国专利
:CN102376552B
,2012-03-14
[4]
离子注入工艺中的基片背面注入方法
[P].
朱伟诚
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朱伟诚
;
郑刚
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郑刚
;
施向东
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施向东
.
中国专利
:CN102087956A
,2011-06-08
[5]
多晶硅离子注入工艺
[P].
陈福成
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陈福成
.
中国专利
:CN102044420A
,2011-05-04
[6]
离子注入工艺的光刻定义方法
[P].
蔡坤
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蔡坤
.
中国专利
:CN111599667A
,2020-08-28
[7]
离子注入机的工艺能力的监控方法和离子注入方法
[P].
国子明
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国子明
;
王毅
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王毅
;
郭国超
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郭国超
;
姚雷
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姚雷
;
郝志
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郝志
.
中国专利
:CN103839858B
,2014-06-04
[8]
离子注入工艺的监测方法
[P].
周婉利
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机构:
华虹半导体(无锡)有限公司
华虹半导体(无锡)有限公司
周婉利
.
中国专利
:CN118553634A
,2024-08-27
[9]
离子注入机台的水汽监控方法
[P].
国子明
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国子明
;
郭国超
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郭国超
;
张凌越
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张凌越
;
姚蕾
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姚蕾
.
中国专利
:CN104599996B
,2015-05-06
[10]
离子注入方法
[P].
徐承柏
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徐承柏
;
吴承翰
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吴承翰
;
郑东垣
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郑东垣
;
山本芳裕
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山本芳裕
;
G·G·巴克莱
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G·G·巴克莱
;
G·珀勒斯
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G·珀勒斯
.
中国专利
:CN103915331A
,2014-07-09
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