具有气隙的半导体元件结构及其制备方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010698132.1
申请日
2020-07-20
公开(公告)号
CN112542446B
公开(公告)日
2024-03-08
发明(设计)人
黄则尧
申请人
南亚科技股份有限公司
申请人地址
中国台湾新北市
IPC主分类号
H01L23/528
IPC分类号
H01L21/768 H10B12/00
代理机构
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人
聂慧荃;闫华
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法 [P]. 
黄则尧 .
中国专利 :CN112542446A ,2021-03-23
[2]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法 [P]. 
郭锦德 .
中国专利 :CN112670286A ,2021-04-16
[3]
具有气隙结构的半导体元件及其制备方法 [P]. 
苏国辉 .
中国专利 :CN112397511A ,2021-02-23
[4]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法 [P]. 
郭锦德 .
中国专利 :CN112670286B ,2024-08-09
[5]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法 [P]. 
施信益 .
中国专利 :CN113035837A ,2021-06-25
[6]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法 [P]. 
黄至伟 .
中国专利 :CN119545783A ,2025-02-28
[7]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法 [P]. 
施信益 .
中国专利 :CN113035837B ,2024-03-29
[8]
具有气隙结构的半导体元件结构及其制备方法 [P]. 
卢立翰 .
中国专利 :CN113540119A ,2021-10-22
[9]
具有气隙的半导体元件及其制备方法 [P]. 
黄至伟 .
中国专利 :CN121192085A ,2025-12-23
[10]
具有气隙的半导体元件及其制备方法 [P]. 
黄则尧 .
中国专利 :CN117479534A ,2024-01-30