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具有气隙的半导体元件结构及其制备方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010698132.1
申请日
:
2020-07-20
公开(公告)号
:
CN112542446B
公开(公告)日
:
2024-03-08
发明(设计)人
:
黄则尧
申请人
:
南亚科技股份有限公司
申请人地址
:
中国台湾新北市
IPC主分类号
:
H01L23/528
IPC分类号
:
H01L21/768
H10B12/00
代理机构
:
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人
:
聂慧荃;闫华
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-03-08
授权
授权
共 50 条
[1]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法
[P].
黄则尧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄则尧
.
中国专利
:CN112542446A
,2021-03-23
[2]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法
[P].
郭锦德
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭锦德
.
中国专利
:CN112670286A
,2021-04-16
[3]
具有气隙结构的半导体元件及其制备方法
[P].
苏国辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
苏国辉
.
中国专利
:CN112397511A
,2021-02-23
[4]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法
[P].
郭锦德
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南亚科技股份有限公司
南亚科技股份有限公司
郭锦德
.
中国专利
:CN112670286B
,2024-08-09
[5]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法
[P].
施信益
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
施信益
.
中国专利
:CN113035837A
,2021-06-25
[6]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法
[P].
黄至伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南亚科技股份有限公司
南亚科技股份有限公司
黄至伟
.
中国专利
:CN119545783A
,2025-02-28
[7]
具有气隙的半导体元件结构及其制备方法
[P].
施信益
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南亚科技股份有限公司
南亚科技股份有限公司
施信益
.
中国专利
:CN113035837B
,2024-03-29
[8]
具有气隙结构的半导体元件结构及其制备方法
[P].
卢立翰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢立翰
.
中国专利
:CN113540119A
,2021-10-22
[9]
具有气隙的半导体元件及其制备方法
[P].
黄至伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南亚科技股份有限公司
南亚科技股份有限公司
黄至伟
.
中国专利
:CN121192085A
,2025-12-23
[10]
具有气隙的半导体元件及其制备方法
[P].
黄则尧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南亚科技股份有限公司
南亚科技股份有限公司
黄则尧
.
中国专利
:CN117479534A
,2024-01-30
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