快恢复平面栅MOSFET器件及其加工工艺

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专利类型
发明
申请号
CN202110894291.3
申请日
2021-08-04
公开(公告)号
CN113611746B
公开(公告)日
2024-04-02
发明(设计)人
孙德福 李东华
申请人
济南市半导体元件实验所
申请人地址
250014 山东省济南市历下区和平路51号
IPC主分类号
H01L29/78
IPC分类号
H01L23/552 H01L21/336
代理机构
济南诚智商标专利事务所有限公司 37105
代理人
李修杰
法律状态
授权
国省代码
山东省 济南市
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共 50 条
[1]
快恢复平面栅MOSFET器件及其加工工艺 [P]. 
孙德福 ;
李东华 .
中国专利 :CN113611746A ,2021-11-05
[2]
具有沟槽结构的高压平面栅MOS器件及其加工工艺 [P]. 
孙德福 ;
李东华 .
中国专利 :CN113611748A ,2021-11-05
[3]
快恢复平面栅超结功率器件 [P]. 
朱袁正 ;
叶鹏 ;
周锦程 ;
李宗清 .
中国专利 :CN216597594U ,2022-05-24
[4]
一种沟槽平面栅MOSFET器件及其制造方法 [P]. 
王彩琳 ;
孙丞 .
中国专利 :CN101540338A ,2009-09-23
[5]
一种平面栅超结MOSFET器件 [P]. 
白玉明 ;
章秀芝 ;
张海涛 .
中国专利 :CN206558510U ,2017-10-13
[6]
降低开关损耗的分离栅MOSFET器件及其制造方法 [P]. 
刘秀梅 ;
殷允超 ;
周祥瑞 ;
刘锋 .
中国专利 :CN111430464B ,2024-08-13
[7]
降低开关损耗的分离栅MOSFET器件及其制造方法 [P]. 
刘秀梅 ;
殷允超 ;
周祥瑞 ;
刘锋 .
中国专利 :CN111430464A ,2020-07-17
[8]
一种平面栅碳化硅MOSFET器件 [P]. 
王正 ;
杨程 ;
裘俊庆 ;
王毅 .
中国专利 :CN222721863U ,2025-04-04
[9]
降低开关损耗的分离栅MOSFET器件 [P]. 
刘秀梅 ;
殷允超 ;
周祥瑞 ;
刘锋 .
中国专利 :CN211578762U ,2020-09-25
[10]
带侧墙栅结构的深槽超结MOSFET器件及其加工工艺 [P]. 
许剑 ;
刘桂芝 ;
夏虎 .
中国专利 :CN109192781A ,2019-01-11